2018-04-17Fourniture d'un microscope FIB/SEM (CEA/Grenoble)
Pour les besoin de sa plateforme de nano caractérisation (PFNC), le CEA/LETI souhaite acquérir un microscope FIB/SEM permettant la préparation des échantillons pour la microscopie électronique à transmission sous la forme de fines lamelles ainsi que pour la sonde atomique tomographique et la tomographie électronique sous la forme d'aiguilles fines.
Un canon Argon pour l’amincissement très basse énergie équipera ce microscope.
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2017-10-24Fourniture d'un microscope électronique à balayage (CEA/Grenoble)
Le laboratoire de packaging du DOPT au CEA/LETI souhaite acquérir un microscope électronique à balayage (MEB) disposant d'un canon à électron de type tungstène, LaB6 ou FEG, permettant l'observation de wafers, puces et assemblages.
L'équipement doit être capable de faire de l'imagerie sur des composants conducteurs, semi-conducteurs et isolants.
L'équipement sera installé dans les locaux de MINATEC et fonctionnera 24 heures sur 24 et 7 jours sur 7.
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2017-09-07Fourniture de deux bancs de capture d'images et prestations associées (Minarm/DGA/DO/S2A)
Le présent marché concerne la fourniture de 2 bancs de capture d'images, l'installation, le transfert de compétences pour les deux bancs et le maintien en condition opérationnelle d'un seul banc.
Les bancs de capture d'image sont constitués d'un microscope électronique à balayage associé à une solution de capture d'image.
Les bancs devront assurer la capture (numérisation et sauvegarde) d'images provenant de l'observation de circuits intégrés comportant des motifs nanométriques. Cette opération génère …
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2017-04-05Acquisition d'un moyen d'essai de type Dual Beam de dernière génération pour imagerie électronique et microchirurgie... (Mindef/DGA/DO/S2A)
Le présent marché concerne l'acquisition, l'installation, le transfert de compétences et le maintien en condition opérationnelle d'un moyen d'essai de type Dual Beam de dernière génération, pour imagerie électronique et microchirurgie par faisceau d'ions focalisés sur composants électroniques.
Le présent projet de marché est soumis à la procédure d'appel d'offre restreint conformément aux dispositions de l'article 42 de l'ordonnance n° 2015-899 et des articles 21-i-1°, 61 à 63 du décret n° 2016-361.
En …
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2016-08-08Microscope électronique à balayage de revue de défauts (CEA/Grenoble)
Le CEA/LETI souhaite faire l’acquisition de 1 microscope électronique à balayage de revue de défauts.
L’équipement devra être entièrement automatique et pouvoir traiter à la fois des plaques de 200 mm et 300 mm de diamètre. Il devra permettre la rotation des plaques à 360° et leur observation jusqu’à un angle de 45°. Il devra également comporter un système d’analyse par rayons X et une colonne "FIB" (Focus Ion Beam) pour réaliser des coupes localisées sur les plaques. Il devra être compatible avec une …
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2016-06-09Fourniture, livraison et installation d'un microscope électronique à balayage de table pour l'UMR EPOC 5805,... (Université de Bordeaux)
Le présent marché a pour objet la fourniture, la livraison et l'installation d'un microscope électronique à balayage de table destiné à la caractérisation (taxonomie, morphoscopie-exoscopie) d'objets ou éléments d'objets biogéniques (organismes macroscopiques de taille pluri-centimétrique à millimétrique, micro-organismes, microfossiles) et lithiques (particules isolées ou incluses dans matrice) pour la plateforme Biodiversité du Laboratoire EPOC de l'Université de Bordeaux.
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2016-01-08Fourniture et installation d’un microscope électronique à balayage (MEB) à émission par effet de champ à haute résolution (CEA/Grenoble)
Le MEB est dédié à l’observation d’ échantillons de divers matériaux conducteurs ou non sous contraintes et déformations mécaniques. Les contraintes mécaniques sur l’échantillon sont engendrées à l’aide d’une micromachine de traction/compression directement introduite dans la chambre du MEB dont les dimensions doivent alors permettre de travailler confortablement.
Prestations supplémentaires éventuelles:
— fourniture d’un système permettant de diminuer le temps et le bruit de fonctionnement de la pompe …
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2014-12-18Fourniture d'un microscope électronique à balayage pour observation et métrologie (CEA/Grenoble)
Le CEA-LETI recherche un équipement d'observation et de métrologie pour des plaques de diamètre 200 mm.
L'équipement devra pouvoir fournir des images SEM, en vues normales et inclinées, sur des plaques entières entre 0.5 mm et 1.5 mm d'épaisseur, pour effectuer des mesures de hauteur et de largeur. De plus, l'équipement devra offrir la possibilité de donner des informations sur la composition chimique des échantillons.
Il sera installé dans les salles blanches du CEA-LETI et fonctionnera 24h/24 – 7j/7.
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2014-02-07Le présent avis de marché porte sur la phase de candidature menée dans le cadre d'une procédure d'appel d'offres... (CEA/Saclay)
L'objet du marché consiste en la fourniture et l'installation d'un microscope électronique à balayage à émission de champ (FEG) à effet Schottky équipé d'une grande chambre, de manière à pouvoir recevoir une platine de déformation in-situ. Ce microscope sera équipé d'un détecteur d'imagerie en électrons rétrodiffusé (BSE) et d'un système d'analyse de texture locale (EBSD) couplé à un système de microanalyse chimique (EDS). Le marché comprend également en option la maintenance associée à l'ensemble des …
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2013-12-232013-023 (INSA de Toulouse)
Marche 2013-023 : microscope electronique a balayage, tres haute resolution, a effet de champ, couple a un spectrometre x a dispersion d'energie et a un module de lithographie electronique. Dans le cadre du cper " Extension du Laboratoire de Physique Chimie des Nano-Objets (lpcno) " de l' INSA de Toulouse, 135 avenue de Rangueil, 31077 Toulouse Cedex 4 (France), financé par des fonds, Etat, Conseil Régional Midi Pyrénées, Feder et INSA.
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2013-09-17Système MEB – FIB (Ensicaen)
le présent marché a pour objet la fourniture, l'installation et la mise en service d'un système MEB-FIB avec deux sources focalisées, une électronique et l'autre ionique (Fib)
Voir la passation de marché » Fournisseurs mentionnés:FEI France SAS