Fourniture d'équipements scientifiques pour le Centre d'etudes et de Recherches en Microélectronique

Université François Rabelais de Tours

Le présent marché a pour objet la fourniture, la livraison, l'installation, la mise en service et la formation à l'utilisation de multiples équipements scientifiques destinés au Centre d'etudes et de Recherches Technologiques en Microélectronique (Certem) phase 2020, dans le cadre de la quatrième tranche d'acquisition.

Date limite

Le délai de réception des offres était de 2017-01-17. L'appel d'offres a été publié le 2016-11-22.

Fournisseurs

Les fournisseurs suivants sont mentionnés dans les décisions d'attribution ou dans d'autres documents relatifs aux marchés publics :

Qui ?

• Université François Rabelais de Tours

Qu'est-ce que c'est ?

• Analyseurs › Matériel de mesure du son
• Appareils de contrôle et d'essai › Machines et appareils d'essai et de mesure
• Instruments d'optique › Matériel de polarisation
• Instruments d'optique spécialisés › Lasers
• Microscopes électroniques › Microscopes électroniques à balayage
• Moteurs, générateurs et transformateurs électriques › Générateurs

Où ?

• Indre-et-Loire
• Loir-et-Cher

Historique des marchés publics

Date	Document
2016-11-22	Avis de marché
2017-04-27	Avis d'attribution de marché

Avis de marché (2016-11-22)
Objet
Champ d'application du marché
Titre: Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes)
Numéro de référence: CERTEM_AO4
Brève description:

Métadonnées de l'avis
Langue originale: français 🗣️
Type de document: Avis de marché
Nature du marché: Fournitures
Réglementation: Union européenne, avec participation des pays de l'AMP
Vocabulaire commun pour les marchés publics (CPV)
Code: Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes) 📦
Code CPV supplémentaire: Machines et appareils d'essai et de mesure 📦
Lasers 📦
Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes) 📦
Microscopes 📦
Microscopes électroniques à balayage 📦
Matériel de polarisation 📦
Analyseurs 📦
Générateurs 📦
Lieu d'exécution
Région NUTS: Loir-et-Cher 🏙️
Indre-et-Loire 🏙️

Procédure
Type de procédure: Procédure ouverte
Type de soumission: Soumission pour tous les lots
Critères d'attribution
Offre la plus économique

Pouvoir adjudicateur
Identité
Pays: France 🇫🇷
Type de pouvoir adjudicateur: Organisme de droit public
Nom du pouvoir adjudicateur: Université François Rabelais de Tours
Adresse postale: 60 rue du Plat d'Étain
Code postal: 37000
Commune postale: Tours
Contact
Adresse Internet: http://www.univ-tours.fr 🌏
Courrier électronique: serviceachatsmarches@univ-tours.fr 📧
Téléphone: +33 247368099 📞
URL des documents: https://www.marchespublics.gouv.fr/?page=entreprise.EntrepriseAdvancedSearch&AllCons&refConsultation=312795&orgAcronyme=f2h 🌏
URL pour la participation: https://www.marches-publics.gouv.fr/?page=entreprise.EntrepriseAdvancedSearch&AllCons&refConsultation=312795&orgAcronyme=f2h 🌏

Référence
Dates
Date d'envoi: 2016-11-22 📅
Date limite de soumission: 2017-01-17 📅
Date de publication: 2016-11-26 📅
Identifiants
Numéro d'avis: 2016/S 229-417033
Numéro JO-S: 229
Informations complémentaires

Attention: fermeture de L'Universite du samedi 17 DECEMBRE 2016 au lundi 02 JANVIER 2017 INCLUS.

Objet
Champ d'application du marché
Nombre maximal de lots attribués à un seul soumissionnaire: 17
Intitulé du lot: Système de mesures sous pointes de composants MEMS dans la bande 1khz-3ghz
Numéro du lot: 1
Brève description:

Système de mesure de caractérisation électrique de composants. Dans la bande 1khz- 3 Ghz.

Durée de l'accord: 12 mois
Description des options:

Option 1: Un système de mesure quatre pointes pour la mesure de paramètres S12 Option 2: Une platine chauffante 0 -300 °C pour des mesures en température Option 3: Une cage de Faraday compatible avec le matériel OFV 072 de Polytec et le passage de la fibre optique Option 4: Une table anti-vibration pour la station sous pointe.

Nom du projet ou programme financé par l’UE: Feder.
Intitulé du lot: Interféromètre laser
Numéro du lot: 2
Brève description:

Interféromètre laser pour la caractérisation d'échantillons de taille micrométrique placés sous une station sous pointe.

Description des options: Option 1: Lentille 10x pour Microscope Option 2: Lentille 20x pour Microscope.
Intitulé du lot: Traceur de courbes pour composants semi-conducteurs
Numéro du lot: 3
Brève description:

Appareil permettant de mesurer les paramètres électriques des composants faible et forte puissance.

Description des options:

Option 1: Poss. D'utiliser l'appareil dans la gamme tension et courant 10kv /10ma (continu) et 10kv /20ma (pulsé) Option 2: Extension de garantie à 5 ans Option 3: Calibration annuelle par laboratoire accrédité pendant la période d'extension de garantie Option 4: kit complet de résistance: 1kohm, 100kohm, 1mohm Option 5: Complément de formation spécifique client, durée 1 ou 2 jours.

Intitulé du lot: Système de mise en température localisé: «Girafe»
Numéro du lot: 4
Brève description:

Mise en température d'un socket sur PCB dans la gamme de température de -65 à +220 degrés.

Description des options:

Option 1: Cloche thermique supplémentaire Option 2: Extension de garantie à 3 ans Option 3: Extension de garantie à 5 ans Option 4: Complément de formation « Application training » spécifique client, durée 1 jour Option 5: un jeu supplémentaire de plaques non conductrices, antistatiques, d'épaisseur et de taille 30*30 cm minimum.

Intitulé du lot: Banc transmission d'énergie Smartgrid: émulateur de ligne éléctrique par filtre numérique
Numéro du lot: 5
Brève description:

L'Objectif de ce banc est de reproduire le comportement fréquentiel d'un réseau électrique pour tester les communications par courant porteur en ligne (Cpl) à l'aide d'une carte FPGA.

Description des options:

Option 1: Variation de l'impédance d'entrée et de sortie Option 2: Implémentation d'un signal de bruit temporel généré sur la sortie analogique, avec possibilité de faire varier son amplitude en fonction du temps Option 3: Variation des coefficients du filtre numérique en fonction du temps sans interruption de l'ancienne session d'émulation Option 4: Extension de garantie à 5 ans.

Intitulé du lot: Banc de transmission d'énergie Smartgrid: mesure de fonction de transfert de ligne éléctrique par injection de courant
Numéro du lot: 6
Brève description:

L'Objectif de ce banc est de mesurer la fonction de transfert d'une ligne électrique en injectant un courant à fréquence variable à un bout de la ligne et en mesurant ce courant à l'autre bout de la ligne.

Description des options:

Option 1: Wattmètre associé à un coupleur de puissance Bi-Directionnel dans la bande fréquence 10 khz- 400 Mhz pour mesurer une puissance maximale de 120 Watts avec des connecteur E/S de type N femelle avec comme interface de communications au minimum le GPIB Option 2: Extension de garantie à 5 ans.

Intitulé du lot: Appareillage de microscopie électrochimique à balayage
Numéro du lot: 7
Brève description:

L'Équipement SECM permet l'étude électrochimique de surfaces immergées dans une solution électrolytique avec des électrodes de dimension micrométrique (ou plus faible).

Description des options:

Option 1: une solution permettant de pré-positionner la sonde facilement (caméra + écran). Option 2: une cellule permettant des mesures sous atmosphère contrôlée.

Intitulé du lot: Equipement automatique de detaping pour plaquettes standards et taïko de 150mm et 200mm de diamètre
Numéro du lot: 8
Brève description:

L'Équipement retire automatiquement, après amincissement des plaquettes, le tape de protection laminé en face avant des plaquettes avant leur amincissement («Back-Grinding») afin d'en protéger les motifs lors de cette étape. L'Équipement est capable de processer des plaquettes standards (non-taïko) de diamètre 150 mm et 200 mm ainsi que des plaquettes Taïko de diamètre 150 mm et 200 mm.

Lorsqu'Une cassette contenant des plaquettes est chargée dans l'équipement, l'équipement prélève une plaquette parmi celles ayant été chargées, procède à son centrage et son alignement, procède ensuite si

nécessaire à une insolation UV du tape situé en face avant, retire ensuite le tape situé en face avant (insolé

ou non) à l'aide d'un tape de peeling adapté, et enfin décharge la plaquette détapée dans une cassette de

sortie.

Intitulé du lot: Equipement d'amincissement automatique (back-grinding) taïko pour plaquettes de 150mm et 200mm de diamètre
Numéro du lot: 9
Brève description:

L'Équipement amincit automatiquement des plaquettes de 150 mm et 200 mm de diamètre en amincissement Taïko.

En complément, l'équipement est également capable d'amincir l'anneau Taïko de plaquettes amincies Taïko au préalable (ring-grinding) de diamètre 150 mm et 200 mm.

Intitulé du lot: Microscope électronique à balayage haute résolution
Numéro du lot: 10
Brève description:

Cet équipement sera utilisé pour l'observation d'échantillons de natures et propriétés diverses, notamment de matériaux semiconducteurs (Silicium, Sic, Gan, ...), de diélectriques ou de polymères.

Le Microscope Electronique à Balayage devra également être équipé d'un système de spectroscopie à rayons X à dispersion d'énergie (Eds), permettant d'effectuer des analyses quantitatives de composition élémentaire sur les échantillons observés.

Description des options:

Option 1: support plaquette diamètre 4". Option 2: support plaquette diamètre 6". Option 3: support plaquette diamètre 8". Option 4: platine de polarisation de circuits. Option 5: mesure EBIC quantitatif, gamme de courant mesurable de 10pa à 5ma. Option 6: décontamination de l'échantillon (voir CCTP pour plus de précisions sur les options).

Intitulé du lot: Option piezo pour microscopie sous vide
Numéro du lot: 11
Brève description:

Unité électronique de mesure contenant deux détections synchrones indépendantes permettant, en la couplant à un microscope en champ proche (Spm), d'imager la réponse piézoélectrique d'un matériau en mode Dual Frequency Resonance Tracking (Dfrt). Le système devra également pouvoir être utilisé comme spectroscope d'impédance.

Description des options:

Système d'asservissement par deux phase-locked loop (Pll) pour régulation en fréquence (DC à quelques dizaines de Mhz) pour NC — aFM, nanomécanique.

Intitulé du lot: Plateforme de test multi-voies de mems acoustiques haute fréquence
Numéro du lot: 12
Brève description:

Plateforme multi-voies (2x128 éléments) dédiée aux tests en émission, émission/ réception de réseaux de sources ultrasonores réalisées sur la base de technologies MEMS, de type électrostatique (Transducteurs capacitifs micro-usinés) ou piézoélectrique (film épais, film mince ou matériau massif).

Description des options:

Option 1: Option «Forte Intensité», module de puissance dit HIFU à coupler module F2 Basse Fréquence, pour atteindre des durée de pulses de quelques secondes et une puissance moyenne de l'ordre de 1000 W Option 2: Module de synchronisation image. Les deux modules utilisés en mode imagerie peuvent former un imageur à 256 voies: cela nécessite de pouvoir les associer de manière transparente.

Intitulé du lot: Plateforme de polarisation et de caractérisation de matériaux piezoélectriques (massif, films epais et fins)
Numéro du lot: 13
Brève description:

Plateforme complète contenant deux systèmes séparés mais basés sur une même configuration pour l'outil de pilotage. Les systèmes seront dédiés à la polarisation et à la caractérisation de matériaux piézoelectriques sous diverses formes (massive, films épais et fins).

Description des options: Six options à chiffrer séparément de l'offre de base. Voir CCTP.
Intitulé du lot: Polisseur ionique (cross polisher)
Numéro du lot: 14
Brève description:

Polisseur ionique (broad ion beam) pour préparation d'échantillons en coupe (Cross Section) et en surface (flat milling) destinés à l'observation en microscopie électronique et à la mesure AFM.

Description des options:

Option 1: système de polissage mécanique permettant de préparer l'échantillon avant le polissage ionique Option 2: support sous atmosphère contrôlée permettant le transfert de l'échantillon dans le meb hr sans contact avec l'air ambiant Option 3: chambre cryogénique pour refroidissement des échantillons lors du polissage Option 4: 2 années de contrat maintenance tout inclus.

Intitulé du lot: Equipement de microscopie numérique
Numéro du lot: 15
Brève description:

L'Équipement permettra l'observation et la mesure de produits réalisés à Tours. L'équipement devra observer des dimensions micrométriques sur des tranches de 150 et 200 mm et des échantillons de 10x10mm

Description des options:

Objectif supplémentaire d'observation pouvant couvrir des plages de 1.5 mm à 200 micromètres avec la possibilité d'observer en champ clair et champ sombre.

Intitulé du lot: Analyseur de réseaux vectoriel 4 ports 20 Ghz
Numéro du lot: 16
Brève description:

Analyseur de réseaux vectoriel RF permettant de mesurer les réponses en fréquences ainsi que les coefficients de réflexion de prototypes (paramétres S).

Description des options:

Option 1: Extension de la garantie à 5 ans Option 2: Extension de la calibration annuelle à 5 ans.

Intitulé du lot: Générateur radiofréquence 6ghz
Numéro du lot: 17
Brève description: Générateur radiofréquence délivrant une fréquence au moins jusqu'à 6 Ghz.
Description des options:

Option 1: Extension de la garantie à 5 ans Option 2: Extension de la calibration annuelle par un laboratoire accrédité à 5 ans.

Lieu d'exécution
Site principal ou lieu d'exécution:

Site Universitaire de Blois Laboratoire GREMAN Rue de la Chocolaterie 41034 Blois.

Stmicroelectronics 153 Rue des Douets 37071 TOURS.

Polytech'Tours Laboratoire GREMAN 7, avenue Marcel Dassault 37200 Tours.

Faculté des Sciences et Techniques Laboratoire Pcm2e Parc de Grandmont 37200 Tours.

Stmicroelectronics Laboratoire Certem+ 153 Rue des Douets 37071 TOURS.

Stmicroelectronics Laboratoire Certem + 153 Rue des Douets 37071 TOURS.

Stmicroelectronics Laboratoire Certem+ Bp7155 26 Rue Pierre et Marie Curie 37071 Tours.

Faculté des Sciences et Techniques Laboratoire greman umr 7347 Parc de Grandmont 37200 Tours.

Stmicroelectronics Plateforme Certem Plus 153 Rue des Douets 37071 TOURS.

Stmicroelectronics Plateforme Certem Plus CS 97155 153 Rue des Douets 37071 TOURS.

Stmicroelectronics Laboratoire GREMAN Plateforme Certem…

… 153 Rue des Douets 37071 TOURS.

… CS 97155 153 Rue des Douets 37071 TOURS.

Stmicroelectronics Laboratoire de Caractérisation 153 Rue des Douets 37071 TOURS.

Procédure
Heure limite de réception des offres: 16:00
Langues dans lesquelles les offres ou les demandes de participation peuvent être présentées: français 🗣️
Date d'ouverture des offres: 2017-01-17 📅
Heure d'ouverture des offres: 16:00
Informations complémentaires:

Attention: fermeture de L'Universite du samedi 17 DECEMBRE 2016 au lundi 02 JANVIER 2017 INCLUS.

Critères d'attribution
Critère de qualité (nom): Valeur technique des prestations: performances techniques et environnementales du matériel, fonctionnalités, modularité et évolutivité
Critère de qualité (pondération): 40
Critère de qualité (nom): Délais d'exécution / de livraison
Critère de qualité (pondération): 20
Critère de qualité (nom): Qualité du service après-vente et de l'assistance technique
Critère de qualité (pondération): 10
Pondération du prix: 30

Pouvoir adjudicateur
Identité
Numéro d'enregistrement national: 19370800500478
Contact
Point de contact: Service achats et marchés
Adresse du profil d'acheteur: http://www.marches-publics.gouv.fr 🌏
URL des documents: https://www.marchespublics.gouv.fr/?page=entreprise.EntrepriseAdvancedSearch&AllCons&refConsultation=312795&orgAcronyme=f2h 🌏

Informations complémentaires
Organe de révision
Nom: Tribunal administratif d'Orléans
Adresse postale: 28 rue de la Bretonnerie
Commune postale: Orléans Cedex 1
Code postal: 45057
Pays: France 🇫🇷
Téléphone: +33 238775900 📞
Fax: +33 238538516 📠
Adresse Internet: http://orleans.tribunal-administratif.fr 🌏
Service auprès duquel des informations sur la procédure de recours peuvent être obtenues
Nom: Greffe du tribunal administratif d'Orléans
Source: OJS 2016/S 229-417033 (2016-11-22)

Avis d'attribution de marché (2017-04-27)
Objet
Champ d'application du marché
Brève description:

Le présent marché a pour objet la fourniture, la livraison, l'installation, la mise en service et la formation à l'utilisation de multiples équipements scientifiques destinés au Centre d'études et de recherches technologiques en microélectronique (Certem) phase 2020, dans le cadre de la quatrième tranche d'acquisition.

Valeur totale du marché: 3516398.60 EUR 💰
Métadonnées de l'avis
Type de document: Avis d'attribution de marché

Procédure
Type de soumission: Sans objet

Pouvoir adjudicateur
Identité
Adresse postale: 60 rue du Plat d'Etain

Référence
Dates
Date d'envoi: 2017-04-27 📅
Date de publication: 2017-04-29 📅
Identifiants
Numéro d'avis: 2017/S 084-163208
Se réfère à l'avis: 2016/S 229-417033
Numéro JO-S: 84

Objet
Champ d'application du marché
Description des options:

Option 1: un système de mesure quatre pointes pour la mesure de paramètres S12 option 2: une platine chauffante 0 -300 °C pour des mesures en température option 3: une cage de Faraday compatible avec le matériel OFV 072 de Polytec et le passage de la fibre optique Option 4: une table anti-vibration pour la station sous pointe.

Option 1: lentille 10x pour microscope option 2: lentille 20x pour microscope.

Option 1: Poss. D'utiliser l'appareil dans la gamme tension et courant 10kv /10ma (continu) et 10kv /20ma (pulsé) option 2: extension de garantie à 5 ans option 3: calibration annuelle par laboratoire accrédité pendant la période d'extension de garantie option 4: kit complet de résistance: 1kohm, 100kohm, 1mohm option 5: complément de formation spécifique client, durée 1 ou 2 jours.

Brève description:

L'objectif de ce banc est de reproduire le comportement fréquentiel d'un réseau électrique pour tester les communications par courant porteur en ligne (CPL) à l'aide d'une carte FPGA.

Intitulé du lot: Banc de transmission d'énergie Smartgrid: mesure de fonction de transfert de ligne électrique par injection de courant
Brève description:

L'objectif de ce banc est de mesurer la fonction de transfert d'une ligne électrique en injectant un courant à fréquence variable à un bout de la ligne et en mesurant ce courant à l'autre bout de la ligne.

L'équipement SECM permet l'étude électrochimique de surfaces immergées dans une solution électrolytique avec des électrodes de dimension micrométrique (ou plus faible).

Intitulé du lot: Équipement automatique de detaping pour plaquettes standards et taïko de 150mm et 200mm de diamètre
Lieu d'exécution
Site principal ou lieu d'exécution:

Site universitaire de Blois Laboratoire Greman, rue de la Chocolaterie, 41034 Blois.

Site Universitaire de Blois Laboratoire Greman, rue de la Chocolaterie, 41034 Blois.

Stmicroelectronics, 153 rue des Douets, 37071 Tours.

Polytech'Tours Laboratoire Greman, 7 avenue Marcel Dassault, 37200 Tours.

Faculté des sciences et techniques laboratoire Pcm2e Parc de Grandmont 37200 Tours.

Attribution du marché
Date de conclusion du contrat: 2017-03-02 📅
2017-03-22 📅
2017-03-17 📅
2017-04-04 📅
2017-03-03 📅
2017-04-12 📅
2017-03-20 📅
2017-03-15 📅
Source: OJS 2017/S 084-163208 (2017-04-27)

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