2014-02-07Le présent avis de marché porte sur la phase de candidature menée dans le cadre d'une procédure d'appel d'offres... (CEA/Saclay)
L'objet du marché consiste en la fourniture et l'installation d'un microscope électronique à balayage à émission de champ (FEG) à effet Schottky équipé d'une grande chambre, de manière à pouvoir recevoir une platine de déformation in-situ. Ce microscope sera équipé d'un détecteur d'imagerie en électrons rétrodiffusé (BSE) et d'un système d'analyse de texture locale (EBSD) couplé à un système de microanalyse chimique (EDS). Le marché comprend également en option la maintenance associée à l'ensemble des …
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2013-12-232013-023 (INSA de Toulouse)
Marche 2013-023 : microscope electronique a balayage, tres haute resolution, a effet de champ, couple a un spectrometre x a dispersion d'energie et a un module de lithographie electronique. Dans le cadre du cper " Extension du Laboratoire de Physique Chimie des Nano-Objets (lpcno) " de l' INSA de Toulouse, 135 avenue de Rangueil, 31077 Toulouse Cedex 4 (France), financé par des fonds, Etat, Conseil Régional Midi Pyrénées, Feder et INSA.
Voir la passation de marché » Fournisseurs mentionnés:JEOL SAS
2013-09-17Système MEB – FIB (Ensicaen)
le présent marché a pour objet la fourniture, l'installation et la mise en service d'un système MEB-FIB avec deux sources focalisées, une électronique et l'autre ionique (Fib)
Voir la passation de marché » Fournisseurs mentionnés:FEI France SAS
2013-03-19mp 2013-17 (Université de Rouen)
fourniture de microscopes électroniques : - un microscope électronique en transmission (Met) à haute résolution permettant de faire de l'analyse chimique quantitative à l'échelle atomique- un microscope électronique à balayage (Meb) couplé à une colonne ionique (Fib) pour nano-usinage et à un système d'injection de gaz pour soudure
Voir la passation de marché » Fournisseurs mentionnés:CARL Zeiss SASJEOL (Europe) SAS
2013-02-12Fourniture, installation et mise en service d'un microscope électronique à balayage à effet de champ ou MEB-FEG... (DGA Techniques aéronautiques)
Tranche ferme - poste 1 : Fourniture, installation et mise en service d'un microscope électronique à balayage à effet de champ ou MEB-FEG (Field Emission Gun) Tranche Ferme - poste 2 : intégration du spectomètre à dispersion d'énergie X-MAX d'oxford Instrument Tranche Conditionnelle 1 : maintenance préventive et corrective de l'appareil sur une période de sept ans.Le présent projet de marché est soumis à la procédure de marché négocié après publication préalable et mise en concurrence conformément aux …
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2012-12-12Microscope à force atomique (AFM) fonctionnant sous atmosphère contrôlée (CEA/Grenoble)
Le CEA Grenoble souhaite, dans le cadre de la Plateforme de Nano Caractérisation (PFNC) du CEA- LETI
Minatec, faire l’acquisition d’un microscope à force atomique (AFM) fonctionnant sous atmosphère contrôlée.
Cet équipement sera utilisé dans le cadre de programmes de Recherches en Nanosciences et Applications des
Micro et Nano Technologies.
Les principales caractéristiques attendues de l’AFM sont les suivantes :
— Travail sous atmosphère contrôlée avec système de purification des gaz inertes (<0.1 ppm …
Voir la passation de marché » Fournisseurs mentionnés:Bruker AXS SAS
2012-12-12Fourniture d'un microscope confocal/multiphoton (Institut de cancérologie Gustave Roussy)
Microscope confocal/ multiphoton (MP), en configuration inversée sur table antivibration et comprenant 4 lasers continus dans le visible et 1 laser multiphoton , pour l'acquisition quantitative d'image moléculaires cellulaires et tissulaires à haute résolution sur échantillons vivants (cultures de cellules, organes et petit animal type rongeur). Le fournisseur de microscope sera seul responsable auprès de l'IGR du couplage du laser multiphoton sur son instrument. Le choix du laser MP proposé devra être …
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2012-06-22Acquisition d'un système de vidéo-microscopie (CEA/Grenoble)
Le CEA/Grenoble souhaite faire l'acquisition d'un système de vidéo-microscopie qui permette d'effectuer des expériences de photo-ablations et laser patterning. Ce système évolutif doit pouvoir être équipé par la suite d'un dispositif "Spinning-Disk".
Le marché est divisé en deux (2) lots décrits ci-dessous:
— Lot n° 1: le statif complet comprenant les optiques afférentes (objectifs et filtres de fluorescence) ainsi que le système d'illumination en fluorescence et lumière transmise,
— Lot n° 2: le système …
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2012-04-18Fourniture d'un microscope electronique a balayage a effet de champ (CEA Marcoule)
Fourniture d’un Microscope Electronique haute résolution à effet de champ (MEB-FEG). Le MEB -FEG devra posséder une large gamme de haute tension d’accélération (0.1 à 30 KV), une gamme de courant suffisamment large (1pA à 30nA ou plus) et une résolution en mode électrons secondaires de 1 nm à 20KV.
Cet équipement sera installé au Bâtiment 109 du CEA Marcoule en zone nucléaire contrôlée.
Le fournisseur aura en charge la fourniture de l'appareil, la mise en service, la formation à son utilisation.
Variante …
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2012-02-02Equipement de nanotomographie par rayons X au sein d'un microscope électronique à balayage pour l'imagerie 3D. Date... (CEA/Grenoble)
Le CEA LETI souhaite faire l'acquisition d'un système de nanotomographie par rayons X afin de réaliser une imagerie 3D d'échantillons. La résolution visée est de moins de 250 nanomètres, pour des applications allant de la microélectronique à la science des matériaux. L'équipement doit fonctionner à des énergies atteignant 12 keV, ou plus, afin de suffisamment pénétrer l'échantillon. Le CEA LETI souhaite que cet équipement soit intégré dans un microscope électronique à balayage dont le faisceau d'électron …
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2011-12-19Microscopie électronique en transmission de type expérimental (Tempos) (Université Paris - Sud 11)
Fourniture, installation et maintenance de 2 équipements de microscopie électronique en transmission, de type expérimental, dans le cadre des projets scientifiques Chromatem et Nanomax, représentés par l'Université Paris - Sud et le CNRS (délégation Ile-de-France Ouest et Nord). Marché passé sous la forme d'un dialogue compétitif en application de l'ordonnance n° 2005-649 du 6.6.2005 et de ses décrets d'application: décret n° 2005-1742 du 30.12.2005 et décret n° 2007-590 du 27.4.2007, plus …
Voir la passation de marché » Fournisseurs mentionnés:FEI FranceNion company
2011-11-16Fourniture et mise en service d'un microscope électronique à balayage au CERIB (CERIB)
Le Centre d'études et de recherches de l'industrie du béton (CERIB) est spécialisé, notamment, dans la physique et la chimie des bétons de tous types. Ses recherches appliquées le conduise à s'intéresser à la micro structure du matériau béton et ce afin de contribuer à optimiser les performances des produits finis en béton.
Dans cet objectif, le CERIB souhaite s'équiper d'un microscope électronique à balayage avec en option les possibilités de faire des observations sous contraintes thermiques et sous …
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2011-07-26Fourniture d'un équipement de préparation d'échantillon pour la microscopie électronique (Université de la Méditerranée)
Fourniture d'un équipement de préparation d'échantillon pour la microscopie électronique.
Le marché est passé en appel d'offres ouvert, selon les dispositions des articles 28 et 29 du décret n° 2005-1742 du 30.12.2005 fixant les règles applicables aux marchés passés par les pouvoirs adjudicateurs mentionnés à l'article 3 de l'ordonnance no 2005-649 du 6.6.2005 relative aux marchés passés par certaines personnes publiques ou privées non soumises au code des marchés publics.
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