Passation de marchés: Microscopes électroniques (page 3)
2017-10-24Fourniture d'un microscope électronique à balayage (CEA/Grenoble)
Le laboratoire de packaging du DOPT au CEA/LETI souhaite acquérir un microscope électronique à balayage (MEB) disposant d'un canon à électron de type tungstène, LaB6 ou FEG, permettant l'observation de wafers, puces et assemblages.
L'équipement doit être capable de faire de l'imagerie sur des composants conducteurs, semi-conducteurs et isolants.
L'équipement sera installé dans les locaux de MINATEC et fonctionnera 24 heures sur 24 et 7 jours sur 7.
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2017-09-07Fourniture de deux bancs de capture d'images et prestations associées (Minarm/DGA/DO/S2A)
Le présent marché concerne la fourniture de 2 bancs de capture d'images, l'installation, le transfert de compétences pour les deux bancs et le maintien en condition opérationnelle d'un seul banc.
Les bancs de capture d'image sont constitués d'un microscope électronique à balayage associé à une solution de capture d'image.
Les bancs devront assurer la capture (numérisation et sauvegarde) d'images provenant de l'observation de circuits intégrés comportant des motifs nanométriques. Cette opération génère …
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2017-04-05Acquisition d'un moyen d'essai de type Dual Beam de dernière génération pour imagerie électronique et microchirurgie... (Mindef/DGA/DO/S2A)
Le présent marché concerne l'acquisition, l'installation, le transfert de compétences et le maintien en condition opérationnelle d'un moyen d'essai de type Dual Beam de dernière génération, pour imagerie électronique et microchirurgie par faisceau d'ions focalisés sur composants électroniques.
Le présent projet de marché est soumis à la procédure d'appel d'offre restreint conformément aux dispositions de l'article 42 de l'ordonnance n° 2015-899 et des articles 21-i-1°, 61 à 63 du décret n° 2016-361.
En …
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2016-08-08Microscope électronique à balayage de revue de défauts (CEA/Grenoble)
Le CEA/LETI souhaite faire l’acquisition de 1 microscope électronique à balayage de revue de défauts.
L’équipement devra être entièrement automatique et pouvoir traiter à la fois des plaques de 200 mm et 300 mm de diamètre. Il devra permettre la rotation des plaques à 360° et leur observation jusqu’à un angle de 45°. Il devra également comporter un système d’analyse par rayons X et une colonne "FIB" (Focus Ion Beam) pour réaliser des coupes localisées sur les plaques. Il devra être compatible avec une …
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2016-06-09Fourniture, livraison et installation d'un microscope électronique à balayage de table pour l'UMR EPOC 5805,... (Université de Bordeaux)
Le présent marché a pour objet la fourniture, la livraison et l'installation d'un microscope électronique à balayage de table destiné à la caractérisation (taxonomie, morphoscopie-exoscopie) d'objets ou éléments d'objets biogéniques (organismes macroscopiques de taille pluri-centimétrique à millimétrique, micro-organismes, microfossiles) et lithiques (particules isolées ou incluses dans matrice) pour la plateforme Biodiversité du Laboratoire EPOC de l'Université de Bordeaux.
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2016-01-08Fourniture et installation d’un microscope électronique à balayage (MEB) à émission par effet de champ à haute résolution (CEA/Grenoble)
Le MEB est dédié à l’observation d’ échantillons de divers matériaux conducteurs ou non sous contraintes et déformations mécaniques. Les contraintes mécaniques sur l’échantillon sont engendrées à l’aide d’une micromachine de traction/compression directement introduite dans la chambre du MEB dont les dimensions doivent alors permettre de travailler confortablement.
Prestations supplémentaires éventuelles:
— fourniture d’un système permettant de diminuer le temps et le bruit de fonctionnement de la pompe …
Voir la passation de marché » Fournisseurs mentionnés:JEOL SAS
2015-10-07Acquisition d'un microscope électronique à balayage double faisceau feg / Faisceau d'ions focalisé (Fib) (Université de Poitiers)
Groupement de commande entre l'université de Poitiers et l'isae-ensma coordonné par l'université de Poitiers en vertu de l'art 8 du Code des marchés publics.
Le microscope double faisceau recherché devra être évolutif et répondre aux besoins suivants :imagerie par électrons secondaires et rétrodiffusés d'échantillons isolants ou conducteurs ,imagerie électronique en transmission (Stem),Abrasion par FIB d'échantillons isolants ou conducteurs,spectrométrie des rayons X par dispersion d'énergie (Eds), …
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2014-12-18Fourniture d'un microscope électronique à balayage pour observation et métrologie (CEA/Grenoble)
Le CEA-LETI recherche un équipement d'observation et de métrologie pour des plaques de diamètre 200 mm.
L'équipement devra pouvoir fournir des images SEM, en vues normales et inclinées, sur des plaques entières entre 0.5 mm et 1.5 mm d'épaisseur, pour effectuer des mesures de hauteur et de largeur. De plus, l'équipement devra offrir la possibilité de donner des informations sur la composition chimique des échantillons.
Il sera installé dans les salles blanches du CEA-LETI et fonctionnera 24h/24 – 7j/7.
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2014-12-18Fourniture d'un microscope électronique en transmission (MET) d'une tension de 200 kV avec un canon à émission de... (CEA – Centre de Cadarache)
Le département d'études des combustibles (DEC), souhaite se doter d'un microscope électronique en transmission (MET), lequel sera situé au sous-sol de l'installation nucléaire de base (INB) 55, dans un environnement conventionnel. Il permettra de caractériser aussi bien des combustibles vierges d'études que des combustibles irradiés en provenance de centrales nucléaires ou de réacteurs expérimentaux de recherche. Grâce à l'acquisition récente d'un MEB-FIB (Focused Ion Beam), il sera aisé de préparer des …
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2014-12-17Un banc de micro et macro photoluminescence multi-applications (CEA/Grenoble)
Le CEA/LETI souhaite acquérir un banc de micro et macro photoluminescence multi-applications. Cet équipement est destiné à des mesures de photoluminescence (PL) sur différents types d’échantillons afin de développer et caractériser la technologie LED à base de GaN.
Le passage de micro à macro PL, ainsi que les changements de sources d’excitation, devra se faire de manière simple et automatique à partir du logiciel de pilotage.
L’équipement permettra également de réaliser des mesures de type Raman, avec …
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2014-10-13CDSEM (Critical Dimension Scanning Electron Microscpy) Date de livraison souhaitée: (CEA/Grenoble)
Pour ses programmes de Recherche et Développement en micro et nanoélectronique, le CEA/LETI souhaite acquérir un équipement, CDSEM (Critical Dimension Scanning Electron Microscpy), pour effectuer des mesures dimensionnelles pouvant être inférieures à 10nm.
Les mesures devront pouvoir être réalisées en modes manuel et automatique sur des plaques de 200 et 300 millimètres de diamètre et en mode manuel sur des morceaux de plaques fixés sur wafer silicium.
Le chargement/déchargement de ces échantillons devra …
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2014-09-25acquisition D'Un microscope electronique a transmission (met) 120 kv (INRA de Montpellier)
la présente consultation a pour objet la fourniture, la livraison, l'installation et la mise en service d'un microscope électronique à transmission (Met) ainsi que les formations, la garantie, l'assistance technique, et la mise à jour des logiciels. Elle comprend également le démontage et l'enlèvement de l'ancien microscope déjà existant dans les lieux
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