2015-12-16Equipement de test sous pointes semi-automatique (CEA/Grenoble)
Le CEA/Grenoble souhaite s’équiper d’un système de tests sous pointes semi-automatique dédié aux mesures électriques et optiques sur des composants en photonique silicium.
Ce système permettra de faire des mesures électriques DC et RF et des mesures optiques sur des tranches silicium de 300 mm. Il sera installé dans les salles blanches microélectroniques de STMicroelectronics à Crolles.
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2014-12-10La fourniture d'un prober contrôlé en température (CNRS délégation Provence et Corse)
Fourniture d'une station de test sous pointes pour des tests sur wafer 8 pouces (200mm), pour réaliser des mesures basses fréquences et hautes fréquences ainsi que des mesures de type I(V) et C(V) de haute précision. L'environnement de mesure doit être contrôlé en température et isolé des perturbations électromagnétiques environnantes. Le marché couvre aussi l'installation du matériel ainsi que tous les accessoires permettant son utilisation: micropositionneurs, câbles, accessoires nécessaires au …
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