La fourniture d'un prober contrôlé en température
Fourniture d'une station de test sous pointes pour des tests sur wafer 8 pouces (200mm), pour réaliser des mesures basses fréquences et hautes fréquences ainsi que des mesures de type I(V) et C(V) de haute précision. L'environnement de mesure doit être contrôlé en température et isolé des perturbations électromagnétiques environnantes. Le marché couvre aussi l'installation du matériel ainsi que tous les accessoires permettant son utilisation: micropositionneurs, câbles, accessoires nécessaires au contrôle de la température, matériels et logiciels de contrôle. Les pointes de mesure DC et RF ne font pas partie du marché.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2015-01-26.
L'appel d'offres a été publié le 2014-12-10.
Fournisseurs
Les fournisseurs suivants sont mentionnés dans les décisions d'attribution ou dans d'autres documents relatifs aux marchés publics :
Qui ?
Qu'est-ce que c'est ?
Historique des marchés publics
| Date |
Document |
| 2014-12-10
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Avis de marché
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| 2015-03-16
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Avis d'attribution de marché
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