2022-06-22acquisition d'un spectromètre d'émission de Rayons X de très faible énergie pour le Microscope Electronique à... (INP de Toulouse)
l'Acquisition d'un spectromètre d'émission de Rayons X de très faible énergie pour le Microscope Electronique à Balayage jeol jsm 7800f, elle concerne : - la fourniture - la livraison - la mise en service - le service après-vente - la formation à l'utilisation d'un spectromètre d'émission de Rayons-X de très faible énergie couplé à un Microscope Électronique à Balayage (Meb). Cet outil a pour fonction de permettre l'analyse chimique d'éléments légers (Li, b, c, n, o...) mais également d'éléments lourds …
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2019-08-07Fourniture, installation et mise en service d'un microscope électronique à transmission (IFP Énergies nouvelles)
Objectif: déterminer les propriétés physiques et chimiques des matériaux d’intérêt pour IFPEN à l’échelle nanométrique.
Analyses les plus courantes: la caractérisation de la répartition de la phase métallique au sein des catalyseurs supportés (feuillets de sulfure, particules de PT, CO, NI). Les applications en synthèse de précurseur de supports aluminiques, comme la bœhmite, la caractérisation de zéolithes ou de catalyseurs zéolithiques sont en croissance.
Nous attendons:
— un accroissement de …
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2017-10-24Fourniture d'un microscope électronique à balayage (CEA/Grenoble)
Le laboratoire de packaging du DOPT au CEA/LETI souhaite acquérir un microscope électronique à balayage (MEB) disposant d'un canon à électron de type tungstène, LaB6 ou FEG, permettant l'observation de wafers, puces et assemblages.
L'équipement doit être capable de faire de l'imagerie sur des composants conducteurs, semi-conducteurs et isolants.
L'équipement sera installé dans les locaux de MINATEC et fonctionnera 24 heures sur 24 et 7 jours sur 7.
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