Marchés publics récents dans lesquels le fournisseur FEI France SAS est mentionné
2023-09-06Fourniture d’un microscope FIB/SEM petits échantillons pour la préparation de lames TEM (CEA/Grenoble)
L'équipement choisi sera dédié à la préparation d'échantillons, principalement des lamelles TEM provenant d'échantillons de semi-conducteurs.
Ce microscope sera principalement utilisé pour :
- La préparation d'échantillons
o pour la microscopie électronique à transmission (TEM) sous forme de fines lamelles
o pour la tomographie par sonde atomique (APT) et la tomographie électronique sous forme de fines sondes en forme d'aiguille
- L'observation de sections transversales
- L'observation et le contrôle de …
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2021-11-19Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à... (CEA Grenoble)
L'Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut Polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) souhaite faire l’acquisition d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG).
Cet équipement sera installé sur la Plateforme de Nano Caractérisation du CEA Grenoble (PFNC). Il permettra l’usinage ionique à l’échelle micro et nanométrique avec une …
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2013-10-22Fourniture d’un microscope électronique à balayage (CEA/Grenoble)
Le CEA-LETI souhaite acquérir un microscope électronique à balayage pour l’observation de plaques entières de 200 et 300 mm de diamètre, équipé d’une colonne ionique d’observation et d’un système de préparation de lames minces pour observation en microscopie électronique en transmission (FIB-SEM; Focus Ion Beam – Secondary Electron Microscope). Cet équipement devra pouvoir être couplé et interfacé à un système de chargement automatique des plaques 200 et 300 mm. Il sera installé dans les salles blanches …
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2013-09-17Système MEB – FIB (Ensicaen)
le présent marché a pour objet la fourniture, l'installation et la mise en service d'un système MEB-FIB avec deux sources focalisées, une électronique et l'autre ionique (Fib)
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