Fournisseur: FEI France SAS

14 marchés publics archivés

Historiquement, les soumissionnaires concurrents ont été synergie4 et Tescan Orsay France SARL.

Marchés publics récents dans lesquels le fournisseur FEI France SAS est mentionné

2023-09-06   Fourniture d’un microscope FIB/SEM petits échantillons pour la préparation de lames TEM (CEA/Grenoble)
L'équipement choisi sera dédié à la préparation d'échantillons, principalement des lamelles TEM provenant d'échantillons de semi-conducteurs. Ce microscope sera principalement utilisé pour : - La préparation d'échantillons o pour la microscopie électronique à transmission (TEM) sous forme de fines lamelles o pour la tomographie par sonde atomique (APT) et la tomographie électronique sous forme de fines sondes en forme d'aiguille - L'observation de sections transversales - L'observation et le contrôle de … Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: FEI France SAS
2022-05-03   Acquisition d'une platine refroidie à l'azote (CNRS - DELEGATION NORMANDIE)
Acquisition d'une platine refroidie à l'azote Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: FEI France SAS
2022-03-09   acquisition d'un microscope à balayage environnemental couplé à un analyseur EDS (École nale sup. de chimie Montpellier)
le présent marché a pour objet l'acquisition, la livraison, la mise en service et la formation à l'utilisation d'un microscope électronique à balayage environnemental associé à un analyseur EDS pour la réalisation d'expériences en humidité contrôlée et en température ainsi que de microanalyses chimiques locales et de cartographies de répartition élémentaire Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: FEI France SAS synergie4
2021-11-19   Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à... (CEA Grenoble)
L'Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut Polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) souhaite faire l’acquisition d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG). Cet équipement sera installé sur la Plateforme de Nano Caractérisation du CEA Grenoble (PFNC). Il permettra l’usinage ionique à l’échelle micro et nanométrique avec une … Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: FEI France SAS
2021-10-15   acquisition, Livraison et Mise en service d'un spectromètre de photoémission induite par rayons X pour l'ums scanmat... (Université de Rennes 1)
la consultation porte sur les prestations désignées ci-après : Acquisition, Livraison et Mise en service d'un spectromètre de photoémission induite par rayons X pour l'ums scanmat de L'Université de rennes 1 Le lieu de la livraison de la fourniture est : - pour le lot unique : universite de rennes 1 Scanmat, UMS 2001 CNRS Campus de Beaulieu 263 avenue du général Leclerc 35 042 Rennes cedex programme de financement cper-feder : Les équipements scientifiques faisant l'objet du présent marché s'insèrent … Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: FEI France SAS
2020-05-11   Fourniture, livraison, installation, mise en service et formation à l’utilisation d’un cryo microscope électronique... (CNRS-Délégation Alsace)
Fourniture, livraison, installation, mise en service et formation à l’utilisation d’un cryo microscope électronique de criblage selon les caractéristiques décrits dans le CCTP joint à la consultation. Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: FEI France SAS
2017-03-07   MP 2016-42 (Université de Rouen)
Fourniture d'un microscope à double faisceau. Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: FEI France SAS
2015-10-01   Achat de 2 microscopes électroniques à balayage (INP de Toulouse)
L'achat de 2 microscopes à balayage, l'un pour la recherche, l'autre pour l'enseignement: 1 microscope électronique à balayage, canon filament tungstène pour le laboratoire Cirimat et 1 microscope électronique à balayage à canon W pour l'enseignement à l'INP/Ensiacet. Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: FEI France SAS Tescan Orsay France SARL
2013-10-22   Fourniture d’un microscope électronique à balayage (CEA/Grenoble)
Le CEA-LETI souhaite acquérir un microscope électronique à balayage pour l’observation de plaques entières de 200 et 300 mm de diamètre, équipé d’une colonne ionique d’observation et d’un système de préparation de lames minces pour observation en microscopie électronique en transmission (FIB-SEM; Focus Ion Beam – Secondary Electron Microscope). Cet équipement devra pouvoir être couplé et interfacé à un système de chargement automatique des plaques 200 et 300 mm. Il sera installé dans les salles blanches … Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: FEI France SAS
2013-09-26   B13-312-MGL- Fourniture, installation et maintenance d'un microscope électronique à balayage à canon à émission de... (Centre du CEA de Cadarache)
La prestation objet du présent marché consiste à réaliser au sein du Service Plutonium, Uranium et Actinides mineurs (SPUA) la fourniture, l'installation, le raccordement sur site et la maintenance, d'un Microscope Electronique à Balayage (MEB) à canon à émission de champ (FEG) de type Schottky, à pression variable, neuf ou de démonstration. Il sera équipé, entre autres, d'un système de microanalyse X de type EDS-SDD et d'un détecteur EBSD, de marque Oxford Instruments, déjà existants, qu'il conviendra … Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: FEI France SAS
2013-09-17   Système MEB – FIB (Ensicaen)
le présent marché a pour objet la fourniture, l'installation et la mise en service d'un système MEB-FIB avec deux sources focalisées, une électronique et l'autre ionique (Fib) Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: FEI France SAS
2013-03-19   fourniture d'un microscope électronique en transmission (Met) fonctionnant à une tension de 200 kv et des... (CEA/Saclay)
la fourniture d'un microscope électronique en transmission (Met) fonctionnant à une tension de 200 kv et des équipements associés Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: FEI France SAS
2012-10-31   Acquisition d'un spectromètre de rayon X à dispersion de longueur d'onde WDX - CNRS 12.15.050 (CNRS - délégation Aquitaine-Limousin)
Fourniture, installation et mise en service d'un spectromètre de rayon X à dispersion de longueur d'onde (WDX). Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: FEI France SAS
2011-04-27   Aoo 17/2011 Fourniture d'un microscope électronique à balayage (MEB-FIB) (Établissement Français du Sang-Alsace)
Le marché a pour objet la fourniture d'un microscope électronique à balayage (MEB) muni d'un canon à faisceau d'ions focalisé (FIB: Focused Ion Beam), les prestations associées et la maintenance. Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: FEI France SAS