2016-09-27Fourniture d'un microscope à faisceau ionique focalisé (CEA Centre de Grenoble)
Le CEA/LETI souhaite acquérir un microscope FIB permettant «l'édition» de circuits intégrés par gravure des différentes couches les composant.
L'équipement devra permettre de traiter/modifier les dernières générations de circuits intégrés aussi bien par leur face avant que par leur face arrière, tout en préservant leur fonctionnalité.
L'équipement sera installé dans les locaux du CEA-LETI et fonctionnera 24 heures sur 24 et 7 jours sur 7.
Voir la passation de marché » Fournisseurs mentionnés:FEI France
2013-09-17Système MEB – FIB (Ensicaen)
le présent marché a pour objet la fourniture, l'installation et la mise en service d'un système MEB-FIB avec deux sources focalisées, une électronique et l'autre ionique (Fib)
Voir la passation de marché » Fournisseurs mentionnés:FEI France SAS