Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG)
L'Institut de recherche interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) souhaite faire l’acquisition d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG).
Cet équipement sera installé sur la plateforme de Nano Caractérisation du CEA Grenoble (PFNC). Il permettra l’usinage ionique à l’échelle micro et nanométrique avec une résolution inférieure à 15 nm et la nano-tomographie de grands volumes d’échantillons. Le MEB-FEG permettra l’imagerie électronique à haute résolution.
Cet équipement sera utilisé dans le cadre de programmes de recherche dans le domaine des nanosciences, des applications micro- et nano technologies et de la science des matériaux.
Les prestations de maintenance associées prennent la forme d'une tranche optionnelle.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2021-05-27.
L'appel d'offres a été publié le 2021-04-26.
Avis de marché (2021-04-26) Pouvoir adjudicateur Nom et adresse
Nom: CEA Grenoble
Adresse postale: 17 rue des Martyrs
Commune postale: Grenoble Cedex 9
Code postal: 38054
Pays: France 🇫🇷
Téléphone: +33 438783158📞
Courrier électronique: charlotte.fritsch@cea.fr📧
Fax: +33 438785060 📠
Région: Isère🏙️
URL: www.cea.fr🌏
Adresse du profil d'acheteur: https://www.marches-publics.gouv.fr🌏
Pouvoir adjudicateur (supplémentaire)
Nom: L’Institut polytechnique de Grenoble
Adresse postale: 46 avenue Félix-Viallet
Commune postale: Grenoble Cedex 1
Pouvoir adjudicateur
Code postal: 38031
Pouvoir adjudicateur (supplémentaire)
Téléphone: +33 476574522📞
Objet Champ d'application du marché
Titre:
“Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ...”
Titre
Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG)
AOO-B21-02049-CF
Afficher plus
Produits/services: Microscopes électroniques à balayage📦
Brève description:
“L'Institut de recherche interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut polytechnique de Grenoble (Grenoble INP)...”
Brève description
L'Institut de recherche interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) souhaite faire l’acquisition d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG).
Cet équipement sera installé sur la plateforme de Nano Caractérisation du CEA Grenoble (PFNC). Il permettra l’usinage ionique à l’échelle micro et nanométrique avec une résolution inférieure à 15 nm et la nano-tomographie de grands volumes d’échantillons. Le MEB-FEG permettra l’imagerie électronique à haute résolution.
Cet équipement sera utilisé dans le cadre de programmes de recherche dans le domaine des nanosciences, des applications micro- et nano technologies et de la science des matériaux.
Les prestations de maintenance associées prennent la forme d'une tranche optionnelle.
1️⃣
Lieu d'exécution: Isère🏙️
Site principal ou lieu d'exécution: CEA Grenoble — conditions d'accès réglementées
Description du marché:
“L'Institut de recherche interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut polytechnique de Grenoble (Grenoble INP)...”
Description du marché
L'Institut de recherche interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) souhaite faire l’acquisition d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG).
Cet équipement sera installé sur la plateforme de Nano Caractérisation du CEA Grenoble (PFNC). Il permettra l’usinage ionique à l’échelle micro et nanométrique avec une résolution inférieure à 15 nm et la nano-tomographie de grands volumes d’échantillons. Le MEB-FEG permettra l’imagerie électronique à haute résolution.
Cet équipement sera utilisé dans le cadre de programmes de recherche dans le domaine des Nanosciences, des applications micro- et nano technologies et de la science des matériaux.
Le MEB-PFIB sera utilisé pour les applications suivantes:
— L’usinage de gros volumes de matière (de côté > 100 μm) tels que les fibres optiques, la reconstruction 3D dans différents domaines (batteries, sciences des matériaux et du vivant…), la fabrication d’objet pour la tomographie aux rayons X,
— Le nano usinage de surface, de nano-objets, la préparation de lames minces pour l’observation en microscopie électronique en transmission. Une attention toute particulière sera portée à l’utilisation des basses tensions afin de limiter les dégâts d’usinage comme l’implantation ionique, l’épaisseur de la couche amorphisée et les défauts structuraux et afin d’atteindre des épaisseurs limites de 50 nm,
— Les dépôts in situ (carbone, métaux) à des échelles nanométriques et en contrôlant la localisation devront être possibles avec le faisceau d’ions et le faisceau d’électrons.
L’instrument sera équipé d’un micro-manipulateur permettant la manipulation de micro et nano-objets de manière versatile. Une rotation sur l’axe du micromanipulateur est nécessaire pour effectuer des préparations dites face arrière d’objets tels que les lames minces pour le TEM.
L’équipementier proposera un dispositif de transfert pour les échantillons sensibles à l’air. Ce système devra être simple et versatile pour passer d’une boite à gants au SEM/FIB et vice et versa. La tenue au vide du système devra être de l’ordre de quelques dizaines de minutes.
La configuration proposée devra permettre l’installation ultérieure d’un système d’analyse EBSD et d’un système EDS pour des analyses 3D. De même, l’équipementier décrira les possibilités en matière de corrélation multi échelle entre la tomographie X et le MEB-PFIB.
Au préalable à l’installation, l’équipementier fera une étude détaillée de la salle d’installation de la machine, vibration, T et rayonnement électromagnétique et nous donnera son accord par écrit sur la validité technique de la salle. Il nous fournira ses caractéristiques techniques.
Le marché comprendra la tranche optionnelle suivante:
— Tranche optionnelle n 1: maintenance préventive et corrective de l’équipement pendant une durée de cinq ans à l’issue de la période de garantie contractuelle.
Un certain nombre d’options techniques sont décrites dans le dossier de consultation.
Afficher plus Critères d'attribution
Le prix n'est pas le seul critère d'attribution et tous les critères ne sont énoncés que dans les documents de passation de marchés
Durée du contrat, de l'accord-cadre ou du système d'acquisition dynamique
Le délai ci-dessous est exprimé en nombre de mois.
Description
Durée de l'accord: 128
Informations sur les options
Options ✅
Description des options:
“— Tranche optionnelle n 1: maintenance préventive et corrective de l’équipement pendant une durée de cinq ans à l’issue de la période de garantie..”
Informations juridiques, économiques, financières et techniques Conditions de participation
Liste et brève description des conditions:
“Le candidat fournira à l’appui de sa candidature:
— le formulaire DC1 (lettre de candidature et habilitation du mandataire par ses cotraitants) ou...”
Liste et brève description des conditions
Le candidat fournira à l’appui de sa candidature:
— le formulaire DC1 (lettre de candidature et habilitation du mandataire par ses cotraitants) ou équivalent,
— le formulaire DC2 (déclaration du candidat individuel ou du membre du groupement) ou équivalent.
Ces formulaires sont disponibles sur le site Internet suivant:
http://www.economie.gouv.fr/daj/formulaires-declaration-du-candidat
— la copie du ou des jugements prononcés s’il est en redressement judiciaire ou dans une procédure étrangère équivalente,
— lorsqu’il appartient à un groupe, une attestation certifiant de son autonomie commerciale et de sa situation de concurrence vis à vis des autres entreprises du groupe.
Les opérateurs économiques ont l’obligation de déposer leurs candidatures et offres par voie électronique sur PLACE, sauf dans les cas prévus par l’article R. 2132-12 du CCP.
Le candidat peut présenter sa candidature sous la forme d’un Document unique de marché européen (DUME), en lieu et place des documents mentionnés à l’article R. 2143-3 du code de la commande publique, téléchargeable à l’adresse suivante: https://ec.europa.eu/tools/espd/filter?lang=fr
Afficher plus Situation économique et financière
Critères de sélection énoncés dans les documents de passation de marchés
Capacité technique et professionnelle
Critères de sélection énoncés dans les documents de passation de marchés
Procédure Type de procédure
Procédure ouverte
Informations administratives
Délai de réception des offres ou des demandes de participation: 2021-05-27
16:00 📅
Langues dans lesquelles les offres ou les demandes de participation peuvent être présentées: anglais 🗣️
Langues dans lesquelles les offres ou les demandes de participation peuvent être présentées: français 🗣️
Le délai ci-dessous est exprimé en nombre de mois.
Délai minimum pendant lequel le soumissionnaire doit maintenir l'offre: 4
Conditions d'ouverture des offres: 2021-05-27
16:00 📅
Conditions d'ouverture des offres (lieu): CEA Grenoble.
Conditions d'ouverture des offres (Informations sur les personnes autorisées et la procédure d'ouverture):
“Cette date est indicative au regard de l’absence d’obligation, en droit français, de les renseigner.”
“Modalités d’obtention du dossier de consultation:
Pour obtenir le dossier de consultation des entreprises, le candidat devra le télécharger via la...”
Modalités d’obtention du dossier de consultation:
Pour obtenir le dossier de consultation des entreprises, le candidat devra le télécharger via la plateforme de dématérialisation des procédures de passation des marchés du CEA accessible sur l’URL suivante: https://www.marches-publics.gouv.fr
Modalités de transmission des candidatures et des offres:
Les modalités de dépôt des candidatures et des offres sont précisées dans le règlement de consultation.
Après examen de la conformité administrative du dossier de candidature, le CEA procédera à l'analyse et à la sélection des candidatures conformément aux critères de jugement des candidatures suivants:
— capacité professionnelle: aptitude technique, organisation en matière d’assurance qualité, références sur des prestations similaires/des fournitures similaires;
— capacité financière.
Afficher plus Organe de révision
Nom: Tribunal administratif de Grenoble
Adresse postale: 2 place de Verdun
Commune postale: Grenoble
Code postal: 38000
Pays: France 🇫🇷
Téléphone: +33 476429000📞
Courrier électronique: greffe.ta-grenoble@juradm.fr📧
Fax: +33 476422269 📠
URL: http://grenoble.tribunal-administratif.fr/🌏 Procédure d'examen
Informations précises sur le(s) délai(s) des procédures d'examen:
“— Le référé précontractuel peut être introduit depuis le début de la procédure de passation jusqu’à la signature du marché;
— Le référé contractuel peut...”
Informations précises sur le(s) délai(s) des procédures d'examen
— Le référé précontractuel peut être introduit depuis le début de la procédure de passation jusqu’à la signature du marché;
— Le référé contractuel peut être introduit dans les conditions des articles L. 551-13 et suivants du code de justice administrative;
— Le recours en contestation de la validité du marché par un tiers peut être intenté dans un délai de deux mois à compter des mesures de publicité appropriées.
Afficher plus Service auprès duquel des informations sur la procédure de recours peuvent être obtenues
Nom: Greffe tribunal administratif de Grenoble
Adresse postale: 2 place de Verdun
Commune postale: Grenoble
Code postal: 38000
Pays: France 🇫🇷
Téléphone: +33 476429000📞
Courrier électronique: greffe.ta-grenoble@juradm.fr📧
Fax: +33 476422269 📠
URL: http://grenoble.tribunal-administratif.fr/🌏
Source: OJS 2021/S 084-214178 (2021-04-26)
Informations complémentaires (2021-05-06) Pouvoir adjudicateur (supplémentaire) Nom et adresse
Nom: L’institut polytechnique de Grenoble
Adresse postale: 46 avenue Félix Viallet
Objet Champ d'application du marché
Brève description:
“L'Institut de recherche interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut polytechnique de Grenoble (Grenoble INP)...”
Brève description
L'Institut de recherche interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) souhaite faire l’acquisition d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG).
Cet équipement sera installé sur la Plate-forme de Nano. Caractérisation du CEA Grenoble (PFNC). Il permettra l’usinage ionique à l’échelle micro et nanométrique avec une résolution inférieure à 15 nm et la nano-tomographie de grands volumes d’échantillons. Le MEB-FEG permettra l’imagerie électronique à haute résolution.
Cet équipement sera utilisé dans le cadre de programmes de recherche dans le domaine des nanosciences, des applications micro et nano technologies et de la science des matériaux.
Les prestations de maintenance associées prennent la forme d'une tranche optionnelle.
Informations complémentaires Référence de l'avis original
Numéro de l'avis au JO S: 2021/S 084-214178
Changements Texte à corriger dans l'avis original
Numéro de section: IV.2.2)
Emplacement du texte à modifier: Date limite de réception des offres ou des demandes de participation
Ancienne valeur
Date: 2021-05-27 📅
L'heure: 16:00
Nouvelle valeur
Date: 2021-06-02 📅
L'heure: 16:00
Texte à corriger dans l'avis original
Numéro de section: IV.2.7)
Emplacement du texte à modifier: Modalités d’ouverture des offres
Ancienne valeur
Date: 2021-05-27 📅
L'heure: 16:00
Nouvelle valeur
Date: 2021-06-02 📅
L'heure: 16:00
Source: OJS 2021/S 091-235651 (2021-05-06)
Avis d'attribution de marché (2021-11-15) Pouvoir adjudicateur Nom et adresse
Adresse postale: 17 Rue des Martyrs
Commune postale: GRENOBLE CEDEX 9
Pouvoir adjudicateur (supplémentaire)
Nom: L’institut polytechnique de grenoble
Adresse postale: 46 Avenue Félix Viallet
Commune postale: GRENOBLE CEDEX 1
Objet Champ d'application du marché
Brève description:
“L'Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut Polytechnique de Grenoble (Grenoble INP)...”
Brève description
L'Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut Polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) souhaite faire l’acquisition d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG).
Cet équipement sera installé sur la Plateforme de Nano Caractérisation du CEA Grenoble (PFNC). Il permettra l’usinage ionique à l’échelle micro et nanométrique avec une résolution inférieure à 15 nm et la nano-tomographie de grands volumes d’échantillons. Le MEB-FEG permettra l’imagerie électronique à haute résolution.
Cet équipement sera utilisé dans le cadre de programmes de recherche dans le domaine des Nanosciences, des Applications Micro et Nano Technologies et de la Science des Matériaux.
Les prestations de maintenance associées prennent la forme d'une tranche optionnelle.
Afficher plus Description
Site principal ou lieu d'exécution: CEA Grenoble - Conditions d'accès réglementées
Description du marché:
“L'Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut Polytechnique de Grenoble (Grenoble INP)...”
Description du marché
L'Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut Polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) souhaite faire l’acquisition d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG).
Cet équipement sera installé sur la Plateforme de Nano Caractérisation du CEA Grenoble (PFNC). Il permettra l’usinage ionique à l’échelle micro et nanométrique avec une résolution inférieure à 15 nm et la nano-tomographie de grands volumes d’échantillons. Le MEB-FEG permettra l’imagerie électronique à haute résolution.
Cet équipement sera utilisé dans le cadre de programmes de recherche dans le domaine des Nanosciences, des Applications Micro et Nano Technologies et de la Science des Matériaux.
Le MEB-PFIB sera utilisé pour les applications suivantes :
- L’usinage de gros volumes de matière (de côté > 100 µm) tels que les fibres optiques, la reconstruction 3D dans différents domaines (batteries, sciences des matériaux et du vivant,...), la fabrication d’objet pour la tomographie aux rayons X.
- Le nano usinage de surface, de nano-objets, la préparation de lames minces pour l’observation en Microscopie Electronique en Transmission. Une attention toute particulière sera portée à l’utilisation des basses tensions afin de limiter les dégâts d’usinage comme l’implantation ionique, l’épaisseur de la couche amorphisée et les défauts structuraux et afin d’atteindre des épaisseurs limites de 50 nm.
- Les dépôts in-situ (Carbone, métaux) à des échelles nanométriques et en contrôlant la localisation devront être possibles avec le faisceau d’ions et le faisceau d’électrons.
L’instrument sera équipé d’un micro-manipulateur permettant la manipulation de micro et nano-objets de manière versatile. Une rotation sur l’axe du micromanipulateur est nécessaire pour effectuer des préparations dites face arrière d’objets tels que les lames minces pour le TEM.
L’équipementier proposera un dispositif de transfert pour les échantillons sensibles à l’air. Ce système devra être simple et versatile pour passer d’une boite à gants au SEM/FIB et vice et versa. La tenue au vide du système devra être de l’ordre de quelques dizaines de minutes.
La configuration proposée devra permettre l’installation ultérieure d’un système d’analyse EBSD et d’un système EDS pour des analyses 3D. De même, l’équipementier décrira les possibilités en matière de corrélation multi échelle entre la tomographie X et le MEB-PFIB.
Au préalable à l’installation, l’équipementier fera une étude détaillée de la salle d’installation de la machine, vibration, T° et rayonnement électromagnétique et nous donnera son accord par écrit sur la validité technique de la salle. Il nous fournira ses caractéristiques techniques.
Le marché comprendra la tranche optionnelle suivante :
- Tranche optionnelle n°1 : Maintenance préventive et corrective de l’équipement pendant une durée de 5 ans à l’issue de la période de garantie contractuelle.
Un certain nombre d’options techniques sont décrites dans le dossier de consultation.
Afficher plus Critères d'attribution
Critère de qualité (nom): Qualité et performances des colonnes ioniques et électroniques
Critère de qualité (pondération): 15%
Critère de qualité (nom):
“Qualité et performances des accessoires (SAS de transfert, GIS, micromanipulateur et évolutions futures possibles…)”
Critère de qualité (nom):
“Mise en oeuvre des applications : l’offre logiciels notamment prépa TEM et 3D, ergonomie, facilité d’utilisation”
Critère de qualité (nom): Qualité du SAV
Critère de qualité (pondération): 5%
Critère de qualité (nom): Délais
Prix (pondération): 45%
Informations sur les options
Description des options:
“- Tranche optionnelle n°1 : Maintenance préventive et corrective de l’équipement pendant une durée de 5 ans à l’issue de la période de garantie.”
Procédure Informations administratives
Publication précédente concernant cette procédure: 2021/S 084-214178
Attribution du marché
1️⃣
Titre:
“Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG)”
Titre
Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG)
Afficher plus Informations sur les non-lauréats
Autres raisons (interruption de la procédure)
“La présente consultation a été déclarée sans suite en application de l'article R. 2185-1 du code de la commande publique,.
Les motifs invoqués par les...”
La présente consultation a été déclarée sans suite en application de l'article R. 2185-1 du code de la commande publique,.
Les motifs invoqués par les pouvoirs adjudicateurs sont les suivants :
- motifs fondés sur les besoins de l'acheteur (nécessaire redéfinition du besoin).
Afficher plus Organe de révision
Nom: Tribunal administratif de grenoble
Adresse postale: 2 Place de Verdun
Commune postale: Grenoble
Procédure d'examen
Informations précises sur le(s) délai(s) des procédures d'examen:
“Le référé précontractuel peut être introduit depuis le début de la procédure de passation jusqu’à la signature du marché. Le référé contractuel peut être...”
Informations précises sur le(s) délai(s) des procédures d'examen
Le référé précontractuel peut être introduit depuis le début de la procédure de passation jusqu’à la signature du marché. Le référé contractuel peut être introduit dans les conditions des articles L.551-13 et suivants du Code de justice administrative. Le recours en contestation de la validité du marché par un tiers peut être intenté dans un délai de deux mois à compter des mesures de publicité appropriées.
Afficher plus Service auprès duquel des informations sur la procédure de recours peuvent être obtenues
Nom: Greffe tribunal administratif de grenoble
Adresse postale: 2 Place de Verdun
Commune postale: Grenoble
Source: OJS 2021/S 225-590589 (2021-11-15)