Fourniture d’un système d'inspection de wafers (WIS) pour le contrôle de la qualité des plaquettes de silicium PV et leur chargement dans des paniers de chimie

CEA Grenoble

Le CEA souhaite acquérir un système d'inspection de wafers (WIS) pour le contrôle de la qualité des plaquettes de silicium PV et leur chargement dans des paniers de chimie.
Pour poursuivre les activités et le développement de la feuille de route photovoltaïque, le CEA INES prépare la mise à niveau de sa ligne pilote de cellules solaires à hétérojonction Labfab située au Bourget-du-Lac (France).
Cet équipement sera placé dans un environnement de salle blanche et fera partie d'une ligne pilote de R&D fonctionnant à haut débit > 2 400 wafers par heure pour le format M12/G12, > 3 600 wph pour M10/ G10, compatible avec d'autres formats également. L'équipement doit être conçu pour fonctionner 365 jours par an.

Date limite
Le délai de réception des offres était de 2020-12-21. L'appel d'offres a été publié le 2020-11-19.

Qui ?

Qu'est-ce que c'est ?

Où ?

Historique des marchés publics
Date Document
2020-11-19 Avis de marché
2020-11-25 Informations complémentaires
2021-03-05 Avis d'attribution de marché
Avis de marché (2020-11-19)
Pouvoir adjudicateur
Nom et adresse
Nom: CEA Grenoble
Adresse postale: 17 rue des Martyrs
Commune postale: Grenoble
Code postal: 38054
Pays: France 🇫🇷
Personne de contact: Mme Marlène Lozano Palacios
Téléphone: +33 438783721 📞
Courrier électronique: marlene.lozanopalacios@cea.fr 📧
Fax: +33 438785060 📠
Région: Isère 🏙️
URL: www.cea.fr 🌏
Adresse du profil d'acheteur: https://www.marches-publics.gouv.fr 🌏
Communication
URL des documents: https://www.marches-publics.gouv.fr 🌏
URL de participation: https://www.marches-publics.gouv.fr 🌏

Objet
Champ d'application du marché
Titre:
“Fourniture d’un système d'inspection de wafers (WIS) pour le contrôle de la qualité des plaquettes de silicium PV et leur chargement dans des paniers de...”    Afficher plus
Produits/services: Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes) 📦
Brève description:
“Le CEA souhaite acquérir un système d'inspection de wafers (WIS) pour le contrôle de la qualité des plaquettes de silicium PV et leur chargement dans des...”    Afficher plus

1️⃣
Lieu d'exécution: Savoie 🏙️
Site principal ou lieu d'exécution: Institut national de l’énergie solaire — conditions d’accès réglementées.
Description du marché:
“Le CEA souhaite acquérir un système d'inspection de wafers (WIS) pour le contrôle de la qualité des plaquettes de silicium PV et leur chargement dans des...”    Afficher plus
Critères d'attribution
Le prix n'est pas le seul critère d'attribution et tous les critères ne sont énoncés que dans les documents de passation de marchés
Durée de l'accord
Date de début: 2021-04-21 📅
Date de fin: 2023-04-20 📅
Informations sur les limites du nombre de candidats à inviter
Nombre de candidats envisagé: 5
Critères objectifs de sélection du nombre limité de candidats:
“Le nombre maximal d’opérateurs envisagé est de cinq. Après examen de la conformité administrative du dossier de candidature, le CEA procédera à l'analyse et...”    Afficher plus

Informations juridiques, économiques, financières et techniques
Conditions de participation
Liste et brève description des conditions:
“Le candidat fournira à l’appui de sa candidature: — le formulaire DC1 (lettre de candidature et habilitation du mandataire par ses cotraitants) ou...”    Afficher plus
Situation économique et financière
Liste et brève description des critères de sélection:
“— déclaration concernant le chiffre d'affaires global du candidat et, le cas échéant, le chiffre d'affaires du domaine d'activité faisant l'objet du marché...”    Afficher plus
Capacité technique et professionnelle
Liste et brève description des critères de sélection:
“— une liste des principales livraisons effectuées dans le domaine photovoltaïque ou hétérojonction au cours des trois dernières années, indiquant le...”    Afficher plus

Procédure
Type de procédure
Procédure restreinte
Informations administratives
Délai de réception des offres ou des demandes de participation: 2020-12-21 16:00 📅
Date estimée d'envoi des invitations à soumissionner ou à participer aux candidats sélectionnés: 2021-01-07 📅
Langues dans lesquelles les offres ou les demandes de participation peuvent être présentées: anglais 🗣️
Langues dans lesquelles les offres ou les demandes de participation peuvent être présentées: français 🗣️
Le délai ci-dessous est exprimé en nombre de mois.
Délai minimum pendant lequel le soumissionnaire doit maintenir l'offre: 6

Informations complémentaires
Informations complémentaires

“Les entreprises nouvellement créées sont autorisées à présenter leur candidature. Si elles ne sont pas en mesure de produire certains des documents demandés...”    Afficher plus
Organe de révision
Nom: Tribunal administratif de Grenoble
Adresse postale: 2 place de Verdun
Commune postale: Grenoble
Code postal: 38000
Pays: France 🇫🇷
Téléphone: +33 476429000 📞
Courrier électronique: greffe.ta-grenoble@juradm.fr 📧
Fax: +33 476422269 📠
URL: http://grenoble.tribunal-administratif.fr 🌏
Procédure d'examen
Informations précises sur le(s) délai(s) des procédures d'examen:
“— le référé précontractuel peut être introduit depuis le début de la procédure de passation jusqu'à la signature du marché; — le référé contractuel peut...”    Afficher plus
Service auprès duquel des informations sur la procédure de recours peuvent être obtenues
Nom: Greffe tribunal administratif de Grenoble
Adresse postale: 2 place de Verdun
Commune postale: Grenoble
Code postal: 38000
Pays: France 🇫🇷
Téléphone: +33 476429000 📞
Courrier électronique: greffe.ta-grenoble@juradm.fr 📧
Fax: +33 476422269 📠
URL: http://grenoble.tribunal-administratif.fr 🌏
Source: OJS 2020/S 229-563723 (2020-11-19)
Informations complémentaires (2020-11-25)
Objet
Champ d'application du marché
Brève description:
“Le CEA souhaite acquérir un système d'inspection de wafers (WIS) pour le contrôle de la qualité des plaquettes de silicium PV et leur chargement dans des...”    Afficher plus

Informations complémentaires
Référence de l'avis original
Numéro de l'avis au JO S: 2020/S 229-563723

Changements
Texte à corriger dans l'avis original
Numéro de section: III.1.1)
Emplacement du texte à modifier:
“Habilitation à exercer l'activité professionnelle, y compris exigences relatives à l'inscription au registre du commerce ou de la profession”
Ancienne valeur
Texte:
“Liste et description succincte des conditions: Le candidat fournira à l’appui de sa candidature: — le formulaire DC1 (lettre de candidature et habilitation...”    Afficher plus
Nouvelle valeur
Texte:
“Liste et description succincte des conditions: Le candidat fournira à l’appui de sa candidature: — le formulaire DC1 (lettre de candidature et habilitation...”    Afficher plus
Autres informations complémentaires

“L’article 4.1 du règlement de consultation, en version française et anglaise, est modifié. En conséquence, le règlement de consultation référencé...”    Afficher plus
Source: OJS 2020/S 233-575236 (2020-11-25)
Avis d'attribution de marché (2021-03-05)
Objet
Description
Description du marché:
“Le CEA souhaite acquérir un système d'inspection de wafers (WIS) pour le contrôle de la qualité des plaquettes de silicium PV et leur chargement dans des...”    Afficher plus
Critères d'attribution
Critère de qualité (nom):
“— Fonctionnalités du software et ses fonctions spéciales, de l'interface homme/machine, de la base de données et des protocoles SECS/GEM PV2”
Critère de qualité (pondération): 17
Critère de qualité (nom): 17 %, — Qualité et performances des modules de métrologie
Critère de qualité (pondération): 12
Critère de qualité (nom):
“— Qualité et performances des modules de chargement des wafers, de tris, de chargement des paniers WET et du laser de gravure et marquage”
Critère de qualité (pondération): 9
Critère de qualité (nom):
“— Fonctions générales de l'équipement (adaptabilité aux formats et types des wafers, contraintes dimensionnelles, capacité de production, KPI et nombre...”    Afficher plus
Critère de qualité (pondération): 8
Critère de qualité (nom): — Organisation projet
Critère de qualité (pondération): 10
Critère de qualité (nom): — Délais
Critère de qualité (pondération): 4
Prix (pondération): 40

Procédure
Informations administratives
Publication précédente concernant cette procédure: 2020/S 229-563723

Attribution du marché

1️⃣
Titre:
“Fourniture d’un système d'inspection de wafers (WIS) pour le contrôle de la qualité des plaquettes de silicium PV et leur chargement dans des paniers de chimie”
Informations sur les non-lauréats
Aucune offre ou demande de participation n'a été reçue ou toutes ont été rejetées

Informations complémentaires
Informations complémentaires

“Les entreprises nouvellement créées sont autorisées à présenter leur candidature. Si elles ne sont pas en mesure de produire certains des documents demandés...”    Afficher plus
Procédure d'examen
Informations précises sur le(s) délai(s) des procédures d'examen:
“Le référé précontractuel peut être introduit depuis le début de la procédure de passation jusqu’à la signature du marché. Le référé contractuel peut être...”    Afficher plus
Source: OJS 2021/S 048-120256 (2021-03-05)
Recherches connexes 🔍