Le CEA / LETI envisage l'acquisition d'un équipement FIB SEM 300 mm.
Installé en salle blanche, il sera dédié à des applications micro- et nano-électroniques pour assurer, 24 h/24 et 7 j/7:
— le contrôle non-destructif par coupe FIB de plaques de silicium processées 200 mm et 300 mm,
— des préparations de lames minces pour observation par TEM (Transmission Electron Microscopy),
— des analyses de défectivité.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2019-08-05.
L'appel d'offres a été publié le 2019-07-03.
Objet Champ d'application du marché
Titre:
“Équipement FIB SEM 300 mm dédié à des applications micro- et nano-électroniques
AOO_190350-sc”
Produits/services: Appareils de détection et d'analyse📦
Brève description:
“Le CEA / LETI envisage l'acquisition d'un équipement FIB SEM 300 mm.
Installé en salle blanche, il sera dédié à des applications micro- et...”
Brève description
Le CEA / LETI envisage l'acquisition d'un équipement FIB SEM 300 mm.
Installé en salle blanche, il sera dédié à des applications micro- et nano-électroniques pour assurer, 24 h/24 et 7 j/7:
— le contrôle non-destructif par coupe FIB de plaques de silicium processées 200 mm et 300 mm,
— des préparations de lames minces pour observation par TEM (Transmission Electron Microscopy),
— des analyses de défectivité.
1️⃣
Lieu d'exécution: Isère🏙️
Site principal ou lieu d'exécution: CEA/Grenoble.
Description du marché:
“Le CEA/LETI envisage l'acquisition d'un équipement FIB SEM 300 mm.
Installé en salle blanche, il sera dédié à des applications micro- et nano-électroniques...”
Description du marché
Le CEA/LETI envisage l'acquisition d'un équipement FIB SEM 300 mm.
Installé en salle blanche, il sera dédié à des applications micro- et nano-électroniques pour assurer, 24 h/24 et 7 j/7:
— le contrôle non-destructif par coupe FIB de plaques de silicium processées 200 mm et 300 mm,
— des préparations de lames minces pour observation par TEM (Transmission Electron Microscopy),
— des analyses de défectivité.
L'équipement permettra de passer alternativement des plaques 200 mm et 300 mm sans modification et avec le même support.
Il comportera au minimum:
— une colonne FIB (Focused Ion Beam),
— une colonne SEM (Scanning Electron Microscope).
Les détails techniques ainsi que les options sont décrits dans le dossier de consultation.
Afficher plus Critères d'attribution
Critère de qualité (nom): Qualité technique de l'offre
Critère de qualité (pondération): 45
Critère de qualité (nom): Délais de fourniture de l'équipement
Critère de qualité (pondération): 5
Prix (pondération): 50
Durée du contrat, de l'accord-cadre ou du système d'acquisition dynamique
Le délai ci-dessous est exprimé en nombre de mois.
Description
Durée de l'accord: 12
Informations sur les variantes
Les variantes sont acceptées ✅
Informations juridiques, économiques, financières et techniques Conditions de participation
Liste et brève description des conditions:
“Le candidat fournira à l’appui de sa candidature:
— le formulaire DC1 (lettre de candidature et habilitation du mandataire par ses cotraitants) ou...”
Liste et brève description des conditions
Le candidat fournira à l’appui de sa candidature:
— le formulaire DC1 (lettre de candidature et habilitation du mandataire par ses cotraitants) ou équivalent,
— le formulaire DC2 (déclaration du candidat individuel ou du membre du groupement) ou équivalent.
Ces formulaires sont disponibles sur le site internet suivant:
http://www.economie.gouv.fr/daj/formulaires-declaration-du-candidat
— la copie du ou des jugements prononcés s’il est en redressement judiciaire ou dans une procédure étrangère équivalente,
— lorsqu’il appartient à un groupe, une attestation certifiant de son autonomie commerciale et de sa situation de concurrence vis à vis des autres entreprises du groupe.
Les opérateurs économiques ont l’obligation de déposer leurs candidatures et offres par voie électronique sur PLACE, sauf dans les cas prévus par l’article R. 2132-12 du CCP.
Le candidat peut présenter sa candidature sous la forme d’un Document unique de marché européen (DUME), en lieu et place des documents mentionnés à l’article R. 2143-3 du code de la commande publique, téléchargeable à l’adresse suivante: https://ec.europa.eu/tools/espd/filter?lang=fr
Afficher plus Situation économique et financière
Critères de sélection énoncés dans les documents de passation de marchés
Capacité technique et professionnelle
Critères de sélection énoncés dans les documents de passation de marchés
Procédure Type de procédure
Procédure ouverte
Informations administratives
Délai de réception des offres ou des demandes de participation: 2019-08-05
16:00 📅
Langues dans lesquelles les offres ou les demandes de participation peuvent être présentées: français 🗣️
Langues dans lesquelles les offres ou les demandes de participation peuvent être présentées: anglais 🗣️
Le délai ci-dessous est exprimé en nombre de mois.
Délai minimum pendant lequel le soumissionnaire doit maintenir l'offre: 6
Conditions d'ouverture des offres: 2019-08-07
10:00 📅
Conditions d'ouverture des offres (lieu): CEA/Grenoble.
“Les entreprises nouvellement créées sont autorisées à présenter leur candidature. Si elles ne sont pas en mesure de produire certains des documents demandés...”
Les entreprises nouvellement créées sont autorisées à présenter leur candidature. Si elles ne sont pas en mesure de produire certains des documents demandés dans le présent avis de marché, elles peuvent justifier de leurs capacités financières et professionnelles par d’autres moyens que ceux indiqués dans le présent avis et notamment par la présentation de titres ou de l’expérience professionnelle du ou de leurs responsables.
Le présent avis et/ou les documents de la consultation doivent être retirés sur https://www.marches-publics.gouv.fr
Modalités d’obtention du dossier de consultation:
Pour obtenir le dossier de consultation des entreprises, le candidat devra le télécharger via la plate-forme de dématérialisation des procédures de passation des marchés du CEA accessible sur l’internet suivante: https://www.marches-publics.gouv.fr
Modalités de transmission des candidatures et des offres:
Les modalités de dépôt des candidatures et des offres sont précisées dans le règlement de consultation.
Après examen de la conformité administrative du dossier de candidature, le CEA procédera à l'analyse et à la sélection des candidatures conformément aux critères de jugement des candidatures suivants:
— capacité professionnelle: aptitude technique, organisation en matière d’assurance qualité, références sur des prestations similaires/des fournitures similaires,
— capacité financière.
Afficher plus Organe de révision
Nom: Tribunal administratif de Grenoble
Adresse postale: 2 place de Verdun
Commune postale: Grenoble
Code postal: 38000
Pays: France 🇫🇷
Téléphone: +33 476429000📞
Courrier électronique: ta-grenoble@juradm.fr📧
Fax: +33 476422269 📠
URL: http://grenoble.tribunal-administratif.fr/🌏 Procédure d'examen
Informations précises sur le(s) délai(s) des procédures d'examen:
“Le référé précontractuel peut être introduit depuis le début de la procédure de passation jusqu’à la signature du marché.
Le référé contractuel peut être...”
Informations précises sur le(s) délai(s) des procédures d'examen
Le référé précontractuel peut être introduit depuis le début de la procédure de passation jusqu’à la signature du marché.
Le référé contractuel peut être introduit dans les conditions des articles L. 551-13 et suivants du code de justice administrative.
Le recours en contestation de la validité du marché par un tiers peut être intenté dans un délai de 2 mois à compter des mesures de publicité appropriées.
Afficher plus Service auprès duquel des informations sur la procédure de recours peuvent être obtenues
Nom: Tribunal administratif de Grenoble
Adresse postale: 2 place de Verdun
Commune postale: Grenoble
Code postal: 38000
Pays: France 🇫🇷
Téléphone: +33 476429000📞
Courrier électronique: ta-grenoble@juradm.fr📧
Fax: +33 476422269 📠
URL: http://grenoble.tribunal-administratif.fr/🌏
Source: OJS 2019/S 128-312543 (2019-07-03)
Informations complémentaires (2019-07-31) Objet Champ d'application du marché
Brève description:
“Le CEA/LETI envisage l'acquisition d'un équipement FIB SEM 300 mm.
Installé en salle blanche il sera dédié à des applications micro- et nano-électroniques...”
Brève description
Le CEA/LETI envisage l'acquisition d'un équipement FIB SEM 300 mm.
Installé en salle blanche il sera dédié à des applications micro- et nano-électroniques pour assurer, 24 h/24 et 7 j/7:
— le contrôle non-destructif par coupe FIB de plaques de silicium processées 200 mm et 300 mm,
— des préparations de lames minces pour observation par TEM (Transmission Electron Microscopy),
— des analyses de défectivité.
Informations complémentaires Référence de l'avis original
Numéro de l'avis au JO S: 2019/S 128-312543
Changements Texte à corriger dans l'avis original
Numéro de section: IV.2.2)
Emplacement du texte à modifier: Date limite de réception des offres ou des demandes de participation
Ancienne valeur
Date: 2019-08-05 📅
L'heure: 16:00
Nouvelle valeur
Date: 2019-08-26 📅
L'heure: 16:00
Texte à corriger dans l'avis original
Numéro de section: IV.2.7)
Emplacement du texte à modifier: Modalités d’ouverture des offres
Ancienne valeur
Date: 2019-08-07 📅
L'heure: 10:00
Nouvelle valeur
Date: 2019-08-28 📅
L'heure: 10:00
Source: OJS 2019/S 148-364474 (2019-07-31)
Avis d'attribution de marché (2019-09-06) Objet Champ d'application du marché
Brève description:
“Le CEA/LETI envisage l'acquisition d'un équipement FIB SEM 300 mm.
Installé en salle blanche, il sera dédié à des applications micro- et nano-électroniques...”
Brève description
Le CEA/LETI envisage l'acquisition d'un équipement FIB SEM 300 mm.
Installé en salle blanche, il sera dédié à des applications micro- et nano-électroniques pour assurer, 24h/24 et 7j/7:
— le contrôle non-destructif par coupe FIB de plaques de silicium processées 200 mm et 300 mm,
— des préparations de lames minces pour observation par TEM (Transmission Electron Microscopy),
— des analyses de défectivité.
Afficher plus Description
Description du marché:
“Le CEA/LETI envisage l'acquisition d'un équipement FIB SEM 300 mm.
Installé en salle blanche, il sera dédié à des applications micro- et nano-électroniques...”
Description du marché
Le CEA/LETI envisage l'acquisition d'un équipement FIB SEM 300 mm.
Installé en salle blanche, il sera dédié à des applications micro- et nano-électroniques pour assurer, 24h/24 et 7j/7:
— le contrôle non-destructif par coupe FIB de plaques de silicium processées 200 mm et 300 mm,
— des préparations de lames minces pour observation par TEM (Transmission Electron Microscopy),
— des analyses de défectivité.
L'équipement permettra de passer alternativement des plaques 200 mm et 300 mm sans modification et avec le même support.
Il comportera au minimum:
— une colonne FIB (Focused Ion Beam),
— une colonne SEM (Scanning Electron Microscope).
Les détails techniques ainsi que les options sont décrits dans le dossier de consultation.
Procédure Informations administratives
Publication précédente concernant cette procédure: 2019/S 128-312543
Attribution du marché
1️⃣
Titre: Équipement FIB SEM 300 mm dédié à des applications micro- et nano-électroniques
Informations sur les non-lauréats
Aucune offre ou demande de participation n'a été reçue ou toutes ont été rejetées
“Les entreprises nouvellement créées sont autorisées à présenter leur candidature. Si elles ne sont pas en mesure de produire certains des documents demandés...”
Les entreprises nouvellement créées sont autorisées à présenter leur candidature. Si elles ne sont pas en mesure de produire certains des documents demandés dans le présent avis de marché, elles peuvent justifier de leurs capacités financières et professionnelles par d’autres moyens que ceux indiqués dans le présent avis et notamment par la présentation de titres ou de l’expérience professionnelle du ou de leurs responsables.
Le présent avis et/ou les documents de la consultation doivent être retirés sur https://www.marches-publics.gouv.fr
Modalités d’obtention du dossier de consultation:
Pour obtenir le dossier de consultation des entreprises, le candidat devra le télécharger via la plate-forme de dématérialisation des procédures de passation des marchés du CEA accessible sur l’URL suivante: https://www.marches-publics.gouv.fr
Modalités de transmission des candidatures et des offres:
Les modalités de dépôt des candidatures et des offres sont précisées dans le règlement de consultation.
Après examen de la conformité administrative du dossier de candidature, le CEA procédera à l'analyse et à la sélection des candidatures conformément aux critères de jugement des candidatures suivants:
— capacité professionnelle: aptitude technique, organisation en matière d’assurance qualité, références sur des prestations similaires/des fournitures similaires,
— capacité financière.
Afficher plus Procédure d'examen
Informations précises sur le(s) délai(s) des procédures d'examen:
“Le référé précontractuel peut être introduit depuis le début de la procédure de passation jusqu'à la signature du marché.
Le référé contractuel peut être...”
Informations précises sur le(s) délai(s) des procédures d'examen
Le référé précontractuel peut être introduit depuis le début de la procédure de passation jusqu'à la signature du marché.
Le référé contractuel peut être introduit dans les conditions des articles L. 551-13 et suivants du code de justice administrative.
Le recours en contestation de la validité du marché par un tiers peut être intenté dans un délai de 2 mois à compter des mesures de publicité appropriées.
Afficher plus
Source: OJS 2019/S 175-426068 (2019-09-06)