Fourniture d'un microscope FIB/SEM
Pour les besoin de sa plateforme de nano caractérisation (PFNC), le CEA/LETI souhaite acquérir un microscope FIB/SEM permettant la préparation des échantillons pour la microscopie électronique à transmission sous la forme de fines lamelles ainsi que pour la sonde atomique tomographique et la tomographie électronique sous la forme d'aiguilles fines.
Un canon Argon pour l’amincissement très basse énergie équipera ce microscope.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2018-05-22.
L'appel d'offres a été publié le 2018-04-17.
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Historique des marchés publics
| Date |
Document |
| 2018-04-17
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Avis de marché
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