Testeur sous pointe pour wafer 200 mm
Le CEA souhaite s’équiper d’un testeur sous pointe pour wafer 200 mm avec régulation de température jusqu' a 300 °C et incluant un équipement de mesure de type potentiostat multivoies (préférentiellement 64 voies).
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2011-05-24.
L'appel d'offres a été publié le 2011-04-22.
Qui ?
Qu'est-ce que c'est ?
Historique des marchés publics
| Date |
Document |
| 2011-04-22
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Avis de marché
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