2024-07-11   Fourniture d'équipements de mesure haute fréquence (Laboratoire national de métrologie et d'essais (LNE))
Acquisition d'une suite d'équipements de mesure haute fréquence pour la caractérisation métrologique de composants quantiques Voir la passation de marché »
2011-04-22   Testeur sous pointe pour wafer 200 mm (CEA/Grenoble)
Le CEA souhaite s’équiper d’un testeur sous pointe pour wafer 200 mm avec régulation de température jusqu' a 300 °C et incluant un équipement de mesure de type potentiostat multivoies (préférentiellement 64 voies). Voir la passation de marché »