2015-06-18   Fourniture et pose d’une station de test semi-automatique pour la caractérisation électrique et optique de... (Association de préfiguration, institut Lafayette)
L'équipement devra permettre d'effectuer les caractérisations électriques et optiques usuelles sur des composants de type LED ou HEMT, disposés sur des échantillons de 2" à 6" de diamètre, ainsi que sur des fractions de ces échantillons (quarts de 2" par exemple). Il devra aussi être adapté à la caractérisation de couches minces conductrices ou semi-conductrices, de type « 4 pointes ». Il devra permettre, pour l'ensemble de ces mesures, la collecte automatisée des résultats provenant de tout ou partie … Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: FI Science

2011-03-24   Achat d'appareils de mesure optique et d'environnement de test hyperfréquence pour ESIEE Paris (CCI Paris)
L'objet des accords-cadres et des marchés subséquents qui seront conclus sur leur fondement est l'achat d'appareils de mesure optique et d'environnement de test hyperfréquence pour l'établissement d'enseignement ESIEE Paris. Les achats sont répartis en 2 lots séparés dont les intitulés sont précisés dans le présent avis, à la rubrique "annexe B: information sur les lots". Chaque lot est un accord-cadre sans montants minimum ni maximum. Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: Agilent technologies France CVI LASER SAS FI Science MB Électronique Micro Controle Spectra Physics Microworld Photon Lines SAS