Marchés publics récents dans lesquels le fournisseur Bruker JV UK est mentionné
2016-11-17AOO-160697-SVI — Fourniture d'un équipement de métrologie par rayonnement X (CEA Centre de Grenoble)
Le CEA LETI recherche pour ses travaux en nanoélectronique avancé, un équipement de métrologie par rayonnement X capable de traiter à la fois des plaques de 200 et 300 mm de diamètre. L'équipement devra permettre de mesurer des monocouches ou des empilements de couches minces, en mode réflectométrie et diffraction (analyse des phases, haute résolution, « in plane » diffraction), avec une taille de spot inférieure à 200*200µm2..
L'équipement sera entièrement automatique. Il sera installé dans les salles …
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