2011-04-22   Testeur sous pointe pour wafer 200 mm (CEA/Grenoble)
Le CEA souhaite s’équiper d’un testeur sous pointe pour wafer 200 mm avec régulation de température jusqu' a 300 °C et incluant un équipement de mesure de type potentiostat multivoies (préférentiellement 64 voies). Voir la passation de marché »