2013-04-17   Fourniture, installation, mise en service et maintenance d'un microscope électronique à balayage avec canon à effet... (Institut de physique du globe de Paris)
Fourniture, installation, mise en service et maintenance d'un microscope électronique à balayage avec canon à effet de champ (FEG-SEM) et faisceau d'ions focalisés (FIB). Voir la passation de marché »
2013-04-04   Fourniture et installation d'un appareil à faisceau d'ions focalisés (FIB) dans le cadre du projet matmeca-equipex à... (Ecole centrale des arts manufactures)
Fourniture et installation d'un appareil à faisceau d'ions focalisés (FIB) dans le cadre du projet matmeca-equipex à l'École centrale Paris. L'ECP souhaite s'équiper d'un microscope à double colonne : un faisceau d'ions focalisés (FIB) couplé à un microscope électronique à balayage (Meb). Dans le cadre du projet Matméca, le laboratoire Mss-Mat souhaite promouvoir l'analyse et l'observation à l'échelle nanométrique de divers matériaux. Voir la passation de marché »
2013-03-19   mp 2013-17 (Université de Rouen)
fourniture de microscopes électroniques : - un microscope électronique en transmission (Met) à haute résolution permettant de faire de l'analyse chimique quantitative à l'échelle atomique- un microscope électronique à balayage (Meb) couplé à une colonne ionique (Fib) pour nano-usinage et à un système d'injection de gaz pour soudure Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: CARL Zeiss SAS JEOL (Europe) SAS
2013-03-08   AOO0113JCL Acquisition d'un microscope électronique à balayage (MEB) couplé à un faisceau d'ion focalisés, ainsi que... (CEA Le Ripault)
Acquisition d'un appareil couplant l'observation par microscopie de type MEB, et l'abaltion par faisceau d'ions focalisés type MEB/FIB, ainsi que des accessoires, pour observation de matériaux de nature et structure très variées. Offre de base, ainsi que différentes options techniques, telles que décrites dans le Cahier Des Charges (CDC), dont le chemin est donné dans la présente publication. Voir la passation de marché »
2013-03-07   AOO0113JCL Acquisition d'un microscope électronique à balayage (MEB) couplé à un faisceau d'ion focalisés, ainsi que... (CEA Le Ripault)
Acquisition d'un appareil couplant l'observation par microscopie de type MEB, et l'abaltion par faisceau d'ions focalisés type MEB/FIB, ainsi que des accessoires, pour observation de matériaux de nature et structure très variées. Offre de base, ainsi que différentes options, telles que décrites dans le Cahier Des Charges (CDC), joint à la présente publication. Voir la passation de marché »
2013-03-05   Achat d'un microscope électronique à balayage à pression variable (Ecole nationale d'ingénieurs de Tarbes)
Achat d'un microscope électronique à balayage à pression variable Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: CARL Zeiss SAS
2013-02-12   Fourniture, installation et mise en service d'un microscope électronique à balayage à effet de champ ou MEB-FEG... (DGA Techniques aéronautiques)
Tranche ferme - poste 1 : Fourniture, installation et mise en service d'un microscope électronique à balayage à effet de champ ou MEB-FEG (Field Emission Gun) Tranche Ferme - poste 2 : intégration du spectomètre à dispersion d'énergie X-MAX d'oxford Instrument Tranche Conditionnelle 1 : maintenance préventive et corrective de l'appareil sur une période de sept ans.Le présent projet de marché est soumis à la procédure de marché négocié après publication préalable et mise en concurrence conformément aux … Voir la passation de marché »
2012-10-16   Fib/sem (Université de Strasbourg)
Acquisition d'un microscope double faisceau, électronique et ionique, dédié à la nanofabrication. Voir la passation de marché »
2012-09-10   Fourniture, livraison et mise en service d'un microscope électronique à balayage analytique (Université de Rennes 1)
Fourniture, livraison et mise e n service d'un microscope électronique à balayage analytique. Voir la passation de marché »
2012-07-16   Microscope confocal à balayage laser modulaire (Fondation-FRC CIRFC)
Microscope confocal à balayage laser modulaire. Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: CARL Zeiss SAS
2012-07-09   Microscope électronique à balayage (Fondation-FRC CIRFC)
Microscope électronique à balayage. Voir la passation de marché »
2012-05-15   Fourniture, installation et mise en service d'un microscope électronique à balayage à effet de champ ou MEB-FEG... (DGA Techniques aéronautiques)
Fourniture, installation et mise en service d'un microscope électronique à balayage à effet de champ ou MEB-FEG (Field Emission Gun). Tranche ferme: fourniture, installation et mise en service d'un microscope électronique à balayage à effet de champ ou MEB-FEG (Field Emission Gun). Tranche Conditionnelle 1: maintenance préventive et corrective de l'appareil sur une période de 3 ans. Voir la passation de marché »
2012-05-02   Fourniture, livraison, installation, mise en service et maintenance (préventive et curative) durant la période de... (Mindef / EMA / DC SCA / PFAF SE)
Fourniture, livraison, installation, mise en service et maintenance (préventive et curative) durant la période de garantie d'un microscope électronique neuf à balayage couplé à un système d'analyse par dispersion d'énergie des rayons X destiné au Laboratoire d'analyses de surveillance et d'expertise de la marine (LASEM) de la base navale de Toulon. Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: Jeol (Europe)
2012-04-18   Fourniture d'un microscope electronique a balayage a effet de champ (CEA Marcoule)
Fourniture d’un Microscope Electronique haute résolution à effet de champ (MEB-FEG). Le MEB -FEG devra posséder une large gamme de haute tension d’accélération (0.1 à 30 KV), une gamme de courant suffisamment large (1pA à 30nA ou plus) et une résolution en mode électrons secondaires de 1 nm à 20KV. Cet équipement sera installé au Bâtiment 109 du CEA Marcoule en zone nucléaire contrôlée. Le fournisseur aura en charge la fourniture de l'appareil, la mise en service, la formation à son utilisation. Variante … Voir la passation de marché »
2012-04-17   Achat de microscope électronique (Ministère culture et communication)
La présente consultation a pour objet la fourniture et l'installation d'un microscope électronique à balayage à effet de champ (meb feg) et d'un métalliseur destinés au Centre de recherche et de restauration des musées de France (C2rmf). Voir la passation de marché »
2012-03-28   1215_lermps. Appareils traitement surface phase vapeur (Univ. technologie Belfort-Montbéliard)
Achat et installation d'appareils de traitement de surfaces en phase vapeur et de caractérisation. DCE téléchargeable sur www.utbm.fr, rubrique "L'Utbm" puis "Marchés publics". Voir la passation de marché »
2012-03-23   Acquisition d'un centre d'ingénierie pour micro/nano systèmes pour l'Université de Franche-Comté (Université de Franche-Comté)
Acquisition d'un centre d'ingénierie pour micro/nano systèmes pour l'Université de Franche-Comté. Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: Carl Zeiss
2012-02-02   Equipement de nanotomographie par rayons X au sein d'un microscope électronique à balayage pour l'imagerie 3D. Date... (CEA/Grenoble)
Le CEA LETI souhaite faire l'acquisition d'un système de nanotomographie par rayons X afin de réaliser une imagerie 3D d'échantillons. La résolution visée est de moins de 250 nanomètres, pour des applications allant de la microélectronique à la science des matériaux. L'équipement doit fonctionner à des énergies atteignant 12 keV, ou plus, afin de suffisamment pénétrer l'échantillon. Le CEA LETI souhaite que cet équipement soit intégré dans un microscope électronique à balayage dont le faisceau d'électron … Voir la passation de marché »
2011-12-19   Achat d'une plate-forme de nano fabrication et de nano caractérisation haute résolution (lot 1) et système de... (Université de Franche-Comté)
Achat d'une plateforme de nano fabrication et de nano caractérisation haute résolution (lot 1) et système de contrôle externe (lot 2) pour l'Université de Franche-Comté. Voir la passation de marché »
2011-11-16   Fourniture et mise en service d'un microscope électronique à balayage au CERIB (CERIB)
Le Centre d'études et de recherches de l'industrie du béton (CERIB) est spécialisé, notamment, dans la physique et la chimie des bétons de tous types. Ses recherches appliquées le conduise à s'intéresser à la micro structure du matériau béton et ce afin de contribuer à optimiser les performances des produits finis en béton. Dans cet objectif, le CERIB souhaite s'équiper d'un microscope électronique à balayage avec en option les possibilités de faire des observations sous contraintes thermiques et sous … Voir la passation de marché »
2011-09-20   Fourniture, installation et mise en service d'un microscope confocal spectral à balayage laser et formation des utilisateurs (INRA de Nouzilly)
La présente consultation a pour objet la fourniture, l'installation et la mise en service d'un microscope confocal spectral à balayage laser et la formation des utilisateurs. Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: CARL Zeiss SAS
2011-09-14   INRS Centre de Lorraine - acquisition d'un équipement de microscopie électronique à transmission et balayage... (Institut national de recherche et sécurité (INRS))
Le présent marché porte sur: 1 - l’achat d’un équipement de microscopie électronique à transmission et balayage analytique ci-après désigné par « l’équipement y compris: — la livraison, l’installation, la mise en service, — la formation des utilisateurs, 2 - la maintenance de l’équipement. Les caractéristiques techniques et performances minimales requises sont détaillées dans le cahier des clauses techniques particulières (CCTP). Cet équipement doit être installé au Centre de recherche de l’INRS, au sein … Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: JEOL (Europe) SAS
2011-08-02   Acquisition d'un microscope confocal à balayage laser pour l'Inserm U1052 (Lyon, Rhône, France) (Institut national de la santé et de la recherche médicale)
Appel d'offres ouvert portant sur l'acquisition d'un microscope confocal à balayage laser ultra-sensible avec imagerie spectrale et time-lapse sur échantillon fixés et vivants. Equipement prêt pour imagerie multiphoton. Prestation alternative 1 (option 1): laser pulsé (pulse supérieur ou égal à 100 fs) pour imagerie multiphoton. Prestation alternative 2 (option 2): laser pulsé (pulse inférieur à 100 fs) pour imagerie multiphoton. Cet appel d'offres est passé en application des articles 11 et 12 de … Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: CARL Zeiss SAS
2011-07-21   Plateforme d'élaboration et de caractérisation sous ultra vide de couches minces (Délégation Centre Est du CNRS)
Acquisition d'une plateforme d'élaboration et de caractérisation sous ultra vide de couches minces. Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: Horiba Jobin Yvon Omicron
2011-07-13   Fourniture, installation et mise en service d'un microscope confocal à balayage laser (INRA Orléans)
La présente consultation a pour objet la fourniture, l'installation, la mise en service d'un microscope confocal à balayage laser avec la formation à l'utilisation. Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: CARL Zeiss SAS
2011-07-11   Acquisition d'un microscope confocal pour la plateforme d'imagerie et de mesures en microscopie (PIMM) (Université Bretagne Occidentale)
Acquisition d'un microscope confocal pour la plateforme d'imagerie et de mesures en microscopie (PIMM). Voir la passation de marché »
2011-06-27   Acquisition d'un microscope électronique à balayage (Université de Poitiers)
Acquisition d'un microscope électronique à balayage. Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: JEOL (Europe) SAS
2011-06-09   Fourniture et installation d'un microscope éléctronique à balayage FEG (Schottky) pour l'ICMMO (Université Paris-Sud 11)
Fourniture et installation d'un microscope électronique à balayage FEG (Schottky) et formation à son utilisation pour l'ICMMO (Institut de chimie moléculaire et des matériaux d'Orsay (ICMMO). Le marché est passé en application de l'ordonnance n° 2005-649 du 6.6.2005 et de ses décrets d'application: décret n° 2005-1742 du 30.12.2005 et décret n° 2007-590 du 27.4.2007. Voir la passation de marché »
2011-05-23   Microscope électronique à balayage et microscope électronique en transmission (Université du Maine)
Microscope électronique à balayage et microscope électronique en transmission. Voir la passation de marché »
2011-05-05   Achat d'un microscope électronique à balayage à émission de champ (Université Pierre et Marie Curie)
Achat d'un microscope électronique à balayage (Meb) pré-équipé pour la lithographie avec prestations annexes de formation à l'utilisation avec 2 options: Voir la passation de marché »
2011-04-27   Aoo 17/2011 Fourniture d'un microscope électronique à balayage (MEB-FIB) (Établissement Français du Sang-Alsace)
Le marché a pour objet la fourniture d'un microscope électronique à balayage (MEB) muni d'un canon à faisceau d'ions focalisé (FIB: Focused Ion Beam), les prestations associées et la maintenance. Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: FEI France SAS
2011-03-25   Fourniture, installation et mise en service d'un microscope électronique à balayage et d'un système d'analyse EDS (Université du Sud Toulon-Var)
Le présent marché a pour objet la fourniture, l'installation et la mise en service d'un microscope électronique à balayage fonctionnant en mode pression contrôlée équipé d'un canon à effet de champ, couplé à un système d'analyse EDS. Le microscope a pour fonction d'étudier divers types d'échantillons: nanoparticules, matériaux massifs polymères, métalliques ou biologiques. L'appareil sera équipé d'un système de suspension performant afin d'éviter les perturbations dues à l'environnement (une suspension … Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: Carl Zeiss
2011-03-04   Hamma110208 - spectromètre Raman et système de couplage avec le microscope électronique à balayage (MEB), un... (BRGM)
Hamma110208 - les laboratoires de spectrométrie Raman et de microscopie électronique du BRGM réalisent des analyses et des travaux de recherche dans le domaine des géosciences et de l'environnement. Le présent marché est découpé en 3 lots: — Lot 1: spectromètre Raman et système de couplage MEB-Raman; — Lot 2: microscope électronique à balayage (MEB) avec les options: —— Appareil de nettoyage des échantillons par plasma; —— dispositif de compensation de champs magnétiques; — Lot 3: système de microanalyse … Voir la passation de marché »
Fournisseurs mentionnés: Eloise SARL Societe Renishaw SAS