2013-03-19mp 2013-17 (Université de Rouen)
fourniture de microscopes électroniques : - un microscope électronique en transmission (Met) à haute résolution permettant de faire de l'analyse chimique quantitative à l'échelle atomique- un microscope électronique à balayage (Meb) couplé à une colonne ionique (Fib) pour nano-usinage et à un système d'injection de gaz pour soudure
Voir la passation de marché » Fournisseurs mentionnés:CARL Zeiss SASJEOL (Europe) SAS
2013-02-12Fourniture, installation et mise en service d'un microscope électronique à balayage à effet de champ ou MEB-FEG... (DGA Techniques aéronautiques)
Tranche ferme - poste 1 : Fourniture, installation et mise en service d'un microscope électronique à balayage à effet de champ ou MEB-FEG (Field Emission Gun) Tranche Ferme - poste 2 : intégration du spectomètre à dispersion d'énergie X-MAX d'oxford Instrument Tranche Conditionnelle 1 : maintenance préventive et corrective de l'appareil sur une période de sept ans.Le présent projet de marché est soumis à la procédure de marché négocié après publication préalable et mise en concurrence conformément aux …
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2012-04-18Fourniture d'un microscope electronique a balayage a effet de champ (CEA Marcoule)
Fourniture d’un Microscope Electronique haute résolution à effet de champ (MEB-FEG). Le MEB -FEG devra posséder une large gamme de haute tension d’accélération (0.1 à 30 KV), une gamme de courant suffisamment large (1pA à 30nA ou plus) et une résolution en mode électrons secondaires de 1 nm à 20KV.
Cet équipement sera installé au Bâtiment 109 du CEA Marcoule en zone nucléaire contrôlée.
Le fournisseur aura en charge la fourniture de l'appareil, la mise en service, la formation à son utilisation.
Variante …
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2012-02-02Equipement de nanotomographie par rayons X au sein d'un microscope électronique à balayage pour l'imagerie 3D. Date... (CEA/Grenoble)
Le CEA LETI souhaite faire l'acquisition d'un système de nanotomographie par rayons X afin de réaliser une imagerie 3D d'échantillons. La résolution visée est de moins de 250 nanomètres, pour des applications allant de la microélectronique à la science des matériaux. L'équipement doit fonctionner à des énergies atteignant 12 keV, ou plus, afin de suffisamment pénétrer l'échantillon. Le CEA LETI souhaite que cet équipement soit intégré dans un microscope électronique à balayage dont le faisceau d'électron …
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2011-11-16Fourniture et mise en service d'un microscope électronique à balayage au CERIB (CERIB)
Le Centre d'études et de recherches de l'industrie du béton (CERIB) est spécialisé, notamment, dans la physique et la chimie des bétons de tous types. Ses recherches appliquées le conduise à s'intéresser à la micro structure du matériau béton et ce afin de contribuer à optimiser les performances des produits finis en béton.
Dans cet objectif, le CERIB souhaite s'équiper d'un microscope électronique à balayage avec en option les possibilités de faire des observations sous contraintes thermiques et sous …
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2011-03-25Fourniture, installation et mise en service d'un microscope électronique à balayage et d'un système d'analyse EDS (Université du Sud Toulon-Var)
Le présent marché a pour objet la fourniture, l'installation et la mise en service d'un microscope électronique à balayage fonctionnant en mode pression contrôlée équipé d'un canon à effet de champ, couplé à un système d'analyse EDS. Le microscope a pour fonction d'étudier divers types d'échantillons: nanoparticules, matériaux massifs polymères, métalliques ou biologiques. L'appareil sera équipé d'un système de suspension performant afin d'éviter les perturbations dues à l'environnement (une suspension …
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2011-03-04Hamma110208 - spectromètre Raman et système de couplage avec le microscope électronique à balayage (MEB), un... (BRGM)
Hamma110208 - les laboratoires de spectrométrie Raman et de microscopie électronique du BRGM réalisent des analyses et des travaux de recherche dans le domaine des géosciences et de l'environnement.
Le présent marché est découpé en 3 lots:
— Lot 1: spectromètre Raman et système de couplage MEB-Raman;
— Lot 2: microscope électronique à balayage (MEB) avec les options:
—— Appareil de nettoyage des échantillons par plasma;
—— dispositif de compensation de champs magnétiques;
— Lot 3: système de microanalyse …
Voir la passation de marché » Fournisseurs mentionnés:Eloise SARLSociete Renishaw SAS