2023-06-2823-940-23 (Université du Havre)
fourniture livraison et installation d un microscope électronique à balayage équipé d un canon à émission de champ (source Feg) et d un détecteur d éléments (Eds) pour le LOMC de l'université Le Havre Normandie
Voir la passation de marché » Fournisseurs mentionnés:CARL Zeiss SAS
2022-03-30microscope électronique à Balayage (Meb) équipé d'une chaine analytique (Eds+µXrf) ainsi qu'un contrat de... (Université de Bourgogne)
le présent marché a pour objet la fourniture sous forme de contrat de location avec option d'achat (sur une durée de cinq ans), la livraison, l'installation (vérification des calibrages des objectifs), la mise en ordre de marche, la garantie, la formation à l'utilisation et la formation aux opérations de maintenance préventive et curative de premier niveau d'un Microscope électronique à Balayage (Meb) équipé d'une chaine analytique (Eds+µXrf) ainsi qu'un contrat de maintenance relatif à cet appareil le …
Voir la passation de marché » Fournisseurs mentionnés:milexia france s.a.s
2021-11-19Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à... (CEA Grenoble)
L'Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut Polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) souhaite faire l’acquisition d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG).
Cet équipement sera installé sur la Plateforme de Nano Caractérisation du CEA Grenoble (PFNC). Il permettra l’usinage ionique à l’échelle micro et nanométrique avec une …
Voir la passation de marché » Fournisseurs mentionnés:FEI France SAS
2021-04-26Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à... (CEA Grenoble)
L'Institut de recherche interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) souhaite faire l’acquisition d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG).
Cet équipement sera installé sur la plateforme de Nano Caractérisation du CEA Grenoble (PFNC). Il permettra l’usinage ionique à l’échelle micro et nanométrique avec une …
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