Fourniture d'un microscope électronique à balayage à émission de champ (FEG) à effet Schottky, équipé d'un détecteur d'imagerie en électrons rétrodiffusés et d'un système de microanalyse chimique
Au sein du Département de Modélisation des Systèmes et Structures (DM2S) de la Direction de l'Energie Nucléaire du CEA/Saclay, le Service d'Etudes Mécaniques et Thermiques (SEMT) conduit des recherches ayant pour objectif de mieux comprendre la physique des phénomènes en thermomécanique des structures et en mécanique des solides, de développer leur simulation numérique et de valider de nouvelles méthodes de calcul et des procédures d'évaluation de la tenue mécanique des structures. Au sein du SEMT, le Laboratoire des Technologie d'Assemblage (LTA) réalise des études de soudabilité métallurgique et opératoire ainsi que des développements de procédé (outils et base de connaissance) d'intervention à distance (soudage, découpe et réparation laser) s'appuyant sur l'expérimental et la modélisation numérique. Dans ce cadre, le SEMT souhaite faire l'acquisition d'un microscope électronique à balayage à émission de champ (FEG) à effet Schottky. Ce microscope doit être équipé d'un détecteur EDS.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2017-07-20.
L'appel d'offres a été publié le 2017-06-20.
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Historique des marchés publics
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Document |
| 2017-06-20
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Avis de marché
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