Acquisition d'un microscope à force atomique et d'un diffractomètre de rayon X

Universite d'Orléans

Acquisition d'un microscope à force atomique et d'un diffractomètre de rayon X.

Date limite

Le délai de réception des offres était de 2017-09-25. L'appel d'offres a été publié le 2017-07-21.

Fournisseurs

Les fournisseurs suivants sont mentionnés dans les décisions d'attribution ou dans d'autres documents relatifs aux marchés publics :

• Bruker France SAS

Qui ?

• Universite d'Orléans

Qu'est-ce que c'est ?

• Appareils de contrôle et d'essai › Microscopes

Où ?

• Loiret

Historique des marchés publics

Date	Document
2017-07-21	Avis de marché
2018-01-22	Avis d'attribution de marché

Avis de marché (2017-07-21)
Objet
Champ d'application du marché
Titre: Appareils de contrôle et d'essai
Numéro de référence: 30FCS2017
Brève description: Acquisition d'un microscope à force atomique et d'un diffractomètre de rayon X.
Métadonnées de l'avis
Langue originale: français 🗣️
Type de document: Avis de marché
Nature du marché: Fournitures
Réglementation: Union européenne
Vocabulaire commun pour les marchés publics (CPV)
Code: Appareils de contrôle et d'essai 📦
Code CPV supplémentaire: Microscopes 📦
Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes) 📦
Lieu d'exécution
Région NUTS: Loiret 🏙️

Procédure
Type de procédure: Procédure ouverte
Type de soumission: Soumission pour tous les lots
Critères d'attribution
Offre la plus économique

Pouvoir adjudicateur
Identité
Pays: France 🇫🇷
Type de pouvoir adjudicateur: Ministère ou toute autre autorité nationale ou fédérale
Nom du pouvoir adjudicateur: Université d'Orléans
Adresse postale: Château de la Source — BP 6749
Code postal: 45067
Commune postale: Orléans Cedex 2
Contact
Adresse Internet: http://www.univ-orleans.fr/marches 🌏
Courrier électronique: sandrine.rambert@univ-orleans.fr 📧
Téléphone: +33 238492540 📞
Fax: +33 238492759 📠
URL des documents: https://www.marches-publics.gouv.fr/?page=entreprise.EntrepriseAdvancedSearch&AllCons&refConsultation=343467&orgAcronyme=f2h 🌏
URL pour la participation: https://www.marches-publics.gouv.fr/?page=entreprise.EntrepriseAdvancedSearch&AllCons&refConsultation=343467&orgAcronyme=f2h 🌏

Référence
Dates
Date d'envoi: 2017-07-21 📅
Date limite de soumission: 2017-09-25 📅
Date de publication: 2017-07-26 📅
Identifiants
Numéro d'avis: 2017/S 141-289422
Numéro JO-S: 141

Objet
Champ d'application du marché
Intitulé du lot: Microscope à force atomique
Numéro du lot: 1
Brève description:

Le microscope à force atomique permet de caractériser à l'échelle locale des matériaux de tous types (couches minces, agrégats supportés, motifs gravés etc) à l'air et éventuellement en milieu liquide. Les propriétés topographiques, électriques et magnétiques devront à minima pouvoir être étudiées.

Durée de l'accord: 12 mois
Description des options:

D'autres modes de fonctionnement pourront être proposés en option. Le coût de différents contrats de maintenance proposés pour la période succédant à la garantie devra être précisé en option. Les conditions d'intervention et de suivi hors contrat de maintenance devront être détaillées.

Intitulé du lot: Diffractomètre de rayon X
Numéro du lot: 2
Brève description:

Ce diffractomètre devra permettre d'effectuer les analyses suivantes:

— sur des couches minces (épaisseur quelques nm à plusieurs micromètres) polycristallines sans orientation préférentielle ou épitaxiées sur substrat monocristallin: contrôle de la cristallinité, identification de phases, mise en évidence d'orientations préférentielles perpendiculairement et dans le plan du substrat. Les matériaux d'étude seront des métaux et alliages, des oxydes ou des nitrures métalliques,

— sur des nanoparticules métalliques ou de semi-conducteurs déposées sur substrat: contrôle de la cristallinité, identification de phases,

— analyses de plusieurs échantillons permettant d'accéder à une surface analysable de 50 * 50 mm minimum.

Description des options:

Un système d'optique permettant d'effectuer les mesures en haute résolution (raie Cu Kalpha1) pourra être proposé en option. Le détecteur pourra être utilisé en mode ponctuel pour les mesures en incidence rasante et fera si besoin l'objet d'une option. À l'issue de la période de garantie, une extension complémentaire ou un contrat de maintenance seront proposés en option.

Procédure
Heure limite de réception des offres: 12:00
Langues dans lesquelles les offres ou les demandes de participation peuvent être présentées: français 🗣️
Date d'ouverture des offres: 2017-09-26 📅
Heure d'ouverture des offres: 09:00

Pouvoir adjudicateur
Identité
Numéro d'enregistrement national: 19450855200016
Contact
URL des documents: https://www.marches-publics.gouv.fr/?page=entreprise.EntrepriseAdvancedSearch&AllCons&refConsultation=343467&orgAcronyme=f2h 🌏

Informations complémentaires
Organe de révision
Nom: Tribunal administratif
Adresse postale: 28 rue de la Bretonnerie
Commune postale: Orléans
Code postal: 45057
Pays: France 🇫🇷
Adresse Internet: http://orleans.tribunal-administratif.fr 🌏
Source: OJS 2017/S 141-289422 (2017-07-21)

Avis d'attribution de marché (2018-01-22)
Objet
Champ d'application du marché
Valeur totale du marché: 450 489 EUR 💰
Métadonnées de l'avis
Type de document: Avis d'attribution de marché
Lieu d'exécution
Région NUTS: Loiret 🏙️

Procédure
Type de soumission: Sans objet

Pouvoir adjudicateur
Contact
Adresse Internet: http://www.univ-orleans.fr/ 🌏

Référence
Dates
Date d'envoi: 2018-01-22 📅
Date de publication: 2018-01-24 📅
Identifiants
Numéro d'avis: 2018/S 016-032469
Se réfère à l'avis: 2017/S 141-289422
Numéro JO-S: 16

Objet
Champ d'application du marché
Description des options:

D'autres modes de fonctionnement pourront être proposés en option Le coût de différents contrats de maintenance proposés pour la période succédant à la garantie devra être précisé en option. Les conditions d'intervention et de suivi hors contrat de maintenance devront être détaillées.

Brève description:

— sur des couches minces (épaisseur quelques nm à plusieurs micromètres) polycristallines sans orientation préférentielle ou Épitaxie sur substrat monocristallin: contrôle de la cristallinité, identification de phases, mise en évidence d'orientations préférentielles perpendiculairement et dans le plan du substrat. Les matériaux d'étude seront des métaux et alliages, des oxydes ou des nitrures métalliques,

Description des options:

Un système d'optique permettant d'effectuer les mesures en haute résolution (raie Cu Kalpha1) pourra être proposé en option. Le détecteur pourra être utilisé en mode ponctuel pour les mesures en incidence rasante et fera si besoin l'objet d'une option. A l'issue de la période de garantie, une extension complémentaire ou un contrat de maintenance seront proposés en option.

Procédure
Critères d'attribution
Critère de qualité (nom): Valeur technique
Critère de qualité (pondération): 50
Critère de qualité (nom): Service après-vente et Formations
Critère de qualité (pondération): 25
Pondération du prix: 25

Attribution du marché
Date de conclusion du contrat: 2017-12-27 📅
2017-12-26 📅

Informations complémentaires
Organe de révision
Nom: Tribunal Administratif
Source: OJS 2018/S 016-032469 (2018-01-22)

Nouveaux marchés dans des catégories connexes 🆕

Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes) (>20 nouveaux marchés)

Appareils de contrôle et d'essai (>20)