Brève description
Pour les besoin de sa plateforme de nano caractérisation (PFNC), le CEA/LETI souhaite acquérir un microscope FIB permettant la préparation des échantillons pour la microscopie électronique à transmission sous la forme de fines lamelles ainsi que pour la sonde atomique tomographique et la tomographie électronique sous la forme d'aiguilles fines.
L'équipement sera installé dans les locaux de MINATEC et fonctionnera 24 heures sur 24 et 7 jours sur 7.