Fourniture et installation d’un microscope électronique à balayage (MEB) à émission par effet de champ à haute résolution
Le MEB est dédié à l’observation d’ échantillons de divers matériaux conducteurs ou non sous contraintes et déformations mécaniques. Les contraintes mécaniques sur l’échantillon sont engendrées à l’aide d’une micromachine de traction/compression directement introduite dans la chambre du MEB dont les dimensions doivent alors permettre de travailler confortablement.
Prestations supplémentaires éventuelles:
— fourniture d’un système permettant de diminuer le temps et le bruit de fonctionnement de la pompe primaire de l’équipement et d’une alimentation secourue si nécessaire,
— extension de garantie,
— prestations de maintenance préventive et corrective.
Date de livraison souhaitée: septembre 2016.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2016-02-18.
L'appel d'offres a été publié le 2016-01-08.
Fournisseurs
Les fournisseurs suivants sont mentionnés dans les décisions d'attribution ou dans d'autres documents relatifs aux marchés publics :
Qui ?
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Historique des marchés publics
| Date |
Document |
| 2016-01-08
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Avis de marché
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| 2016-01-29
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Informations complémentaires
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| 2016-07-13
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Avis d'attribution de marché
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