Fourniture et pose d’une station de test semi-automatique pour la caractérisation électrique et optique de composants pour la plateforme « Institut Lafayette »
L'équipement devra permettre d'effectuer les caractérisations électriques et optiques usuelles sur des composants de type LED ou HEMT, disposés sur des échantillons de 2" à 6" de diamètre, ainsi que sur des fractions de ces échantillons (quarts de 2" par exemple).
Il devra aussi être adapté à la caractérisation de couches minces conductrices ou semi-conductrices, de type « 4 pointes ».
Il devra permettre, pour l'ensemble de ces mesures, la collecte automatisée des résultats provenant de tout ou partie des composants présents sur les échantillons, ainsi que la constitution d'une cartographie des résultats (mapping).
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2015-08-07.
L'appel d'offres a été publié le 2015-06-18.
Fournisseurs
Les fournisseurs suivants sont mentionnés dans les décisions d'attribution ou dans d'autres documents relatifs aux marchés publics :
Qui ?
Qu'est-ce que c'est ?
Historique des marchés publics
| Date |
Document |
| 2015-06-18
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Avis de marché
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| 2015-11-02
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Avis d'attribution de marché
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