Fourniture d'un système de microscopie électronique à balayage haute résolution (MEB-FEG) pouvant accommoder des plaquettes de 8 pouces
L'équipement souhaité, sera utilisé pour les projets de la plateforme de caractérisation nécessitant l'imagerie à haute résolution et potentiellement l'analyse chimique et optique des échantillons conducteurs, semi-conducteurs et/ou isolants élaborés sur différents substrats et utilisés pour la réalisation de dispositifs optoélectroniques. L'institut Lafayette doit pouvoir traiter des échantillons jusqu'à une taille de 8 pouces.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2015-05-15.
L'appel d'offres a été publié le 2015-03-27.
Fournisseurs
Les fournisseurs suivants sont mentionnés dans les décisions d'attribution ou dans d'autres documents relatifs aux marchés publics :
Qui ?
Qu'est-ce que c'est ?
Historique des marchés publics
| Date |
Document |
| 2015-03-27
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Avis de marché
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| 2015-11-12
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Avis d'attribution de marché
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