Equipement de test sous pointes semi-automatique
Le CEA/Grenoble souhaite s’équiper d’un système de tests sous pointes semi-automatique dédié aux mesures électriques et optiques sur des composants en photonique silicium.
Ce système permettra de faire des mesures électriques DC et RF et des mesures optiques sur des tranches silicium de 300 mm. Il sera installé dans les salles blanches microélectroniques de STMicroelectronics à Crolles.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2016-02-02.
L'appel d'offres a été publié le 2015-12-16.
Fournisseurs
Les fournisseurs suivants sont mentionnés dans les décisions d'attribution ou dans d'autres documents relatifs aux marchés publics :
Qui ?
Qu'est-ce que c'est ?
Historique des marchés publics
| Date |
Document |
| 2015-12-16
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Avis de marché
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| 2016-02-12
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Informations complémentaires
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| 2016-04-26
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Avis d'attribution de marché
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