Marché n° 2014-45: acquisition d'un diffractomètre à rayons X
Le présent marché a pour objet l'acquisition d'un équipement neuf pour la caractérisation par diffraction de couches minces épitaxiées de semiconducteurs III/V.
Procédure: il est passé selon la procédure de l'appel d'offres ouvert soumis aux dispositions de l'ordonnance du 06 juin 2005 modifiée et des décrets du 30 décembre 2005 modifié ( fixant les règles applicables aux marchés passés par les pouvoirs adjudicateurs mentionnés à l'article 3 de l'ordonnance n° 2005-649 du 6 juin 2005 relative aux marchés passées par certaines personnes publiques ou privées non soumises au code des marchés publics ) et du 25 avril 2007.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2014-07-15.
L'appel d'offres a été publié le 2014-06-03.
Fournisseurs
Les fournisseurs suivants sont mentionnés dans les décisions d'attribution ou dans d'autres documents relatifs aux marchés publics :
Qui ?
Qu'est-ce que c'est ?
Historique des marchés publics
| Date |
Document |
| 2014-06-03
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Avis de marché
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| 2014-08-28
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Avis d'attribution de marché
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