Fourniture d'un microscope de type Afm/Stm
Dans le cadre du projet anr peliicaen, le CEA souhaite acquérir un microscope en champ proche devant fonctionner in-situ dans un ensemble Fib/Feb. Pour des raisons de compatibilité avec les systèmes Fib/Feb utilisés dans le projet, l'électronique de contrôle et de commande doit être basée sur un système embarqué fonctionnant en temps réel et pilotable dans l'environnement de développement Labview (National Instruments) via des librairies fournies. Le microscope doit pouvoir fonctionner en mode AFM et STM et être suffisamment évolutif pour l'utilisation d'autres sondes de mesure en champ proche (MFM par exemple). Les performances doivent être atteintes avec un assemblage vertical des échantillons et de la tête de microscope. La pointe devra être escamotable par rapport à un échantillon de 1cmx1cm.
La garantie sera de 24 mois (pièces, main d'oeuvre et interventions sur site)
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2013-03-15.
L'appel d'offres a été publié le 2013-02-04.
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Historique des marchés publics
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Document |
| 2013-02-04
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Avis de marché
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| 2013-02-12
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Informations complémentaires
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