Un spectromètre de photoélectrons par rayons X (XPS) ultra-rapide
Le CEA Grenoble souhaite, dans le cadre de la Plateforme de Nano Caractérisation (PFNC) du CEA-Minatec, faire l’acquisition d’un spectromètre de photoélectrons par rayons X (XPS) ultra-rapide dédié à l’analyse quasi-in situ pour ses besoins en caractérisation des surfaces de matériaux, systèmes et dispositifs.
Cet équipement sera utilisé dans le cadre de programmes de Recherches en Nanosciences et Applications des Micro- et Nano- Technologies.
Les principales caractéristiques attendues de cet instrument sont les suivantes:
Une chambre d’introduction d’échantillons compatible avec des accessoires existants permettant le transfert d’échantillons depuis une boîte à gant ou entre équipements UHV,
En XPS conventionnelle, l’analyse semi-automatique, haute-sensibilité, d’un grand nombre d’échantillons,
Des capacités en termes d’analyse localisée et d’analyse d’échantillons isolants électrique,
Des capacités en terme d’analyse en profondeur par canon ionique à base d’ions poly-atomiques (Gas Cluster Ion Source) livré avec l’équipement.
Cet équipement sera installé sur la Plateforme de Nano Caractérisation (PFNC) au sein de Minatec.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2013-01-07.
L'appel d'offres a été publié le 2012-11-28.
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Historique des marchés publics
| Date |
Document |
| 2012-11-28
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Avis de marché
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