Microscope à force atomique (AFM) fonctionnant sous atmosphère contrôlée
Le CEA Grenoble souhaite, dans le cadre de la Plateforme de Nano Caractérisation (PFNC) du CEA- LETI
Minatec, faire l’acquisition d’un microscope à force atomique (AFM) fonctionnant sous atmosphère contrôlée.
Cet équipement sera utilisé dans le cadre de programmes de Recherches en Nanosciences et Applications des
Micro et Nano Technologies.
Les principales caractéristiques attendues de l’AFM sont les suivantes :
— Travail sous atmosphère contrôlée avec système de purification des gaz inertes (<0.1 ppm pour O2 et H2O)
— Une tête AFM permettant l’imagerie rapide de la topographie (typiquement une image par minute)
— Une tête AFM permettant
— l’imagerie de la topographie avec un contrôle de la force d’interaction pointe/ surface pouvant être <
100 pN
— l’imagerie des propriétés électriques par scanning capacitance microscopy (SCM), scanning
spreading resistance microscopy (SSRM), electrostatic force microscopy (EFM) et Kelvin force
microscopy (KFM),
— l’imagerie directe des propriétés mécaniques comme le module d’Young, l’adhésion, la dissipation…
par le biais d’acquisition de courbe d'approche/ retrait (courbe de force).
— l’imagerie des propriétés piézoélectriques par piezo force microscopy (PFM).
— l’imagerie en milieu liquide (contact et Tapping)
Cet équipement sera installé sur la Plateforme de Nano Caractérisation (PFNC) au sein de Minatec.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2013-01-16.
L'appel d'offres a été publié le 2012-12-12.
Fournisseurs
Les fournisseurs suivants sont mentionnés dans les décisions d'attribution ou dans d'autres documents relatifs aux marchés publics :
Qui ?
Qu'est-ce que c'est ?
Historique des marchés publics
| Date |
Document |
| 2012-12-12
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Avis de marché
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| 2013-08-09
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Avis d'attribution de marché
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