Fourniture d'un microscope electronique a balayage a effet de champ
Fourniture d’un Microscope Electronique haute résolution à effet de champ (MEB-FEG). Le MEB -FEG devra posséder une large gamme de haute tension d’accélération (0.1 à 30 KV), une gamme de courant suffisamment large (1pA à 30nA ou plus) et une résolution en mode électrons secondaires de 1 nm à 20KV.
Cet équipement sera installé au Bâtiment 109 du CEA Marcoule en zone nucléaire contrôlée.
Le fournisseur aura en charge la fourniture de l'appareil, la mise en service, la formation à son utilisation.
Variante obligatoire: le soumissionnaire proposera un appareil de démonstration répondant aux mêmes spécifications techniques.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2012-05-29.
L'appel d'offres a été publié le 2012-04-18.
Qui ?
Qu'est-ce que c'est ?
Historique des marchés publics
| Date |
Document |
| 2012-04-18
|
Avis de marché
|