Fourniture d'un microscope à force atomique (AFM) pluridisciplinaire "multiscale" et multifonction

CEA/Saclay

Le marché comprend une tranche ferme relative à la fourniture d'un microscope à force atomique (AFM) pluridisciplinaire "multiscale" et multifonction décrite au point Ii.2.1 et une tranche optionnelle décrite au point Ii.2.2 ci-après.

Date limite

Le délai de réception des offres était de 2012-04-17. L'appel d'offres a été publié le 2012-03-12.

Fournisseurs

Les fournisseurs suivants sont mentionnés dans les décisions d'attribution ou dans d'autres documents relatifs aux marchés publics :

Qui ? Qu'est-ce que c'est ? Où ?
Historique des marchés publics
Date Document
2012-03-12 Avis de marché
2012-10-26 Avis d'attribution de marché
Avis de marché (2012-03-12)
Objet
Champ d'application du marché
Titre: Microscopes
Quantité ou étendue:
Fourniture d'un microscope à force atomique (AFM) pluridisciplinaire qui sera utilisé par des chercheurs provenant de domaines scientifiques divers (systèmes complexes et physique statistique, mécanique du solide, nanomécanique, physico-chimie des matériaux, rayonnement synchrotron...). Les modes standards suivants devront être inclus: mode contact, intermittent ("Tapping") et non-contact; travail en milieu gazeux ou liquide; imagerie des forces latérales (LFM); imagerie de phase; imagerie des forces magnétiques (MFM); imagerie des forces électriques (EFM); mode "Lift" pour MFM & EFM; spectroscopie force vs. distance; "Force Volume Mapping"; imagerie des potentiels de surface; imagerie de réponse piezoélectrique (PFM); nano- indention & scratching; mode conducteur (CAFM); système de contrôle de température; imagerie electrochimique (ECAFM).Les modes non standards suivants devront être inclus: imagerie à force imposée; imagerie à force imposée en milieu liquide; imagerie CAFM à force imposée; imagerie en mode résonance en torsion (Torsion Resonance-Tr); imagerie TR à force imposée; mode "Lift" laser éteint.L'AFM devra permettre d'acquérir plusieurs images en mode standard et/ou non-standard en même temps. Il devra est capable d'imager des zones de taille 90x90 microns mètres carrés, et présentant des dénivellations de 10 micron mètres. Il devra être équipé d'un microscope pour positionner la pointe AFM sur la surface.L'AFM devra être flexible (i.e. permettre d'y incorporer et de le coupler avec des équipements développées directement par les scientifiques ou achetées), utilisable avec des échantillons de grande taille/épaisseur, et parfaitement stable. Tous les logiciels et équipements nécessaires à son utilisation devront être fournis: contrôleurs pour la tête AFM et les déplacements des échantillons, écran, souris, clavier, logiciel pour le pilotage, la prise d'images et de données, et le post-traitement, table anti-vibration, caisson d'isolation acoustique.
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Métadonnées de l'avis
Langue originale: français 🗣️
Type de document: Avis de marché
Nature du marché: Fournitures
Réglementation: Union européenne, avec participation des pays de l'AMP
Vocabulaire commun pour les marchés publics (CPV)
Code: Microscopes 📦

Procédure
Type de procédure: Procédure restreinte
Type de soumission: Soumission pour tous les lots
Critères d'attribution
Offre la plus économique

Pouvoir adjudicateur
Identité
Pays: France 🇫🇷
Type de pouvoir adjudicateur: Organisme de droit public
Nom du pouvoir adjudicateur: CEA/Saclay
Adresse postale: commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives DSM-UCF-service commercial bâtiment 530
Code postal: 91191
Commune postale: Gif-sur-Yvette
Contact
Adresse Internet: http://www.cea.fr 🌏
Courrier électronique: sebastien1.bernard@cea.fr 📧
Téléphone: +33 169081216 📞
Fax: +33 169088772 📠

Référence
Dates
Date d'envoi: 2012-03-12 📅
Date limite de soumission: 2012-04-17 📅
Date de publication: 2012-03-14 📅
Identifiants
Numéro d'avis: 2012/S 51-083092
Numéro JO-S: 51
Informations complémentaires
Les candidatures devront être adressées en 3 exemplaires (1 original et 2 copies) au: CEA/Saclay, bureau du courrier pour le service commercial / BEPII, PC 98 bât. 530, pièce 231, 91191 Gif-Sur-Yvette Cedex, FRANCE, avec la mention "Aapc/12b0007/Sb, objet: Afm". Si votre dossier est transmis par courrier, ce dernier devra être adressé en recommandé avec avis de réception. Si votre dossier arrive par porteur spécial, il devra être remis à un représentant du bureau du courrier du CEA/Saclay, dans le strict respect du délai mentionné ci-dessus et contre remise d'un récépissé. Pour cela, le porteur se présentera à l'accueil de la Porte Nord, où la procédure de dépôt du dossier lui sera indiqué (la carte nationale d'identité ou le passeport lui sera réclamé). Le présent avis peut être retiré sur https://avis-de-marches.cea.fr. Pour déposer une candidature sous forme dématérialisée via la plateforme du CEA, la personne habilitée à engager le candidat doit être: — titulaire d'un certificat électronique accepté par le CEA (les modalités d'obtention de ce certificat sont disponibles sur la plateforme du CEA sous la rubrique "conditions d'utilisation"), — inscrit sur la plateforme de gestion des marchés du CEA, accessible à l'adresse https://avis-de-marches.cea.fr, — cliquer sur le lien "répondre à la consultation" après avoir accepté les conditions d'utilisation. Il est rappelé que le CEA n'est pas soumis au code des marchés publics. Le CEA est soumis aux dispositions du décret no 2005-1742 du 30.12.2005 fixant les règles applicables aux marchés passés par les pouvoirs adjudicateurs mentionnés à l'article 3 de l'ordonnance no 2005-649 du 6.6.2005 relative aux marchés passés par certaines personnes publiques ou privées non soumises au codedesmarchés publics et de sa version consolidée par décret no 2008-1334 du 17.12.2008. Date d'envoi du présent avis au JOUE et au BOAMP: 12.3.2012.
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Objet
Champ d'application du marché
Brève description:
Le marché comprend une tranche ferme relative à la fourniture d'un microscope à force atomique (AFM) pluridisciplinaire "multiscale" et multifonction décrite au point Ii.2.1 et une tranche optionnelle décrite au point Ii.2.2 ci-après.
Quantité ou étendue:
Fourniture d'un microscope à force atomique (AFM) pluridisciplinaire qui sera utilisé par des chercheurs provenant de domaines scientifiques divers (systèmes complexes et physique statistique, mécanique du solide, nanomécanique, physico-chimie des matériaux, rayonnement synchrotron...). Les modes standards suivants devront être inclus: mode contact, intermittent ("Tapping") et non-contact; travail en milieu gazeux ou liquide; imagerie des forces latérales (LFM); imagerie de phase; imagerie des forces magnétiques (MFM); imagerie des forces électriques (EFM); mode "Lift" pour MFM & EFM; spectroscopie force vs. distance; "Force Volume Mapping"; imagerie des potentiels de surface; imagerie de réponse piezoélectrique (PFM); nano- indention & scratching; mode conducteur (CAFM); système de contrôle de température; imagerie electrochimique (ECAFM).
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Les modes non standards suivants devront être inclus: imagerie à force imposée; imagerie à force imposée en milieu liquide; imagerie CAFM à force imposée; imagerie en mode résonance en torsion (Torsion Resonance-Tr); imagerie TR à force imposée; mode "Lift" laser éteint.
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L'AFM devra permettre d'acquérir plusieurs images en mode standard et/ou non-standard en même temps. Il devra est capable d'imager des zones de taille 90x90 microns mètres carrés, et présentant des dénivellations de 10 micron mètres. Il devra être équipé d'un microscope pour positionner la pointe AFM sur la surface.
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L'AFM devra être flexible (i.e. permettre d'y incorporer et de le coupler avec des équipements développées directement par les scientifiques ou achetées), utilisable avec des échantillons de grande taille/épaisseur, et parfaitement stable. Tous les logiciels et équipements nécessaires à son utilisation devront être fournis: contrôleurs pour la tête AFM et les déplacements des échantillons, écran, souris, clavier, logiciel pour le pilotage, la prise d'images et de données, et le post-traitement, table anti-vibration, caisson d'isolation acoustique.
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Description des options:
Option no1: fourniture d'un AFM-Raman.
Option no 2: fourniture d'un profilomètre optique couplé à l'AFM.
Option no 3: possibilité de réaliser des scans à haute vitesse.
Option no 4: modes de fonctionnement optionnels: STHM, analyse thermique à l'échelle du nanomètre, SSRM, SCM, STM, nano-manipulation et lithographie, imagerie de potentiels de surface en milieu liquide, EFM en milieu liquide, système de contrôle des paramètres environnementaux, FFM.
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Option no 5: fourniture d'un logiciel permettant un pilotage automatique de l'AFM (suivi automatique d'une zone d'intérêt, ou assemblage automatique de mosaïques d'images).
Option no 6: extension de garantie de 2 années supplémentaires au delà de la période de garantie initiale de 3 ans (y compris pour les options).
Option no 7: fourniture de grilles de calibration.
Option no 8: fourniture de portes-échantillons.
Option no 9: fourniture d'un assortiment de pointes AFM standard et non standard.
Option no 10: compatibilité de l'AFM avec des champs magnétiques externes.
Durée de l'accord: 60 mois
Numéro de référence: 12B0007-SB
Lieu d'exécution
Site principal ou lieu d'exécution: CEA/Saclay, 91191 Gif-sur-Yvette, FRANCE.

Informations juridiques, économiques, financières et techniques
Conditions de participation
Habilitation à exercer l'activité professionnelle:
Après examen de la conformité administrative du dossier de candidature, les candidatures seront jugées d'après les critères suivants:
— la capacité juridique et financière de l'entreprise,
— la capacité professionnelle: compétences et références dans le domaine des microscopes à force atomique.
Situation juridique:
Le candidat fournira à l'appui de sa candidature:
— le formulaire DC1 (lettre de candidature, habilitation du mandataire par ses co-traitants) ou une lettre de candidature signée par une personne habilitée à engager le candidat contenant l'ensemble des informations demandées dans ce document et une attestation sur l'honneur conforme à celle mentionnée dans le DC1,
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— le formulaire DC2 (déclaration du candidat individuel ou du membre du groupement).
Ces formulaires sont disponibles sur le site Internet du ministère français de l'économie et des finances:
— lorsqu'il appartient à un groupe, une attestation certifiant de son autonomie commerciale et de sa situation de concurrence vis-à-vis des autres entreprises du groupe,
— en cas de groupement d'entreprises, une lettre d'habilitation du mandataire par ses co-traitants,
— à titre informatif, un extrait de l'inscription au registre du commerce et des sociétés (K ou K bis) ouéquivalents, datant de moins de 3 mois,
— les attestations d'assurance civile professionnelle en cours de validité,
— la copie du ou des jugements prononcés s'il est en redressement judiciaire.
Situation économique et financière:
Les liasses CERFA (ou équivalent) de bilan et compte de résultat des 3 dernières années, ainsi que le chiffre d'affaires réalisé avec l'ensemble du CEA d'une part et le Cea/Saclay d'autre part.
Si le candidat recourt à la sous-traitance, il doit produire les mêmes documents concernant ce sous-traitant. En outre, pour justifier qu'il dispose des capacités de ce sous-traitant pour l'exécution du marché, le candidat produit un engagement écrit de ce soustraitant.
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Capacité technique et professionnelle:
Pièces à produire:
— les certificats ou qualifications en adéquation avec l'objet du présent avis en cours de validité délivrés par unorganisme agréé,
— une plaquette de présentation de l'entreprise,
— une note sur l'organisation,
— un dossier présentant les capacités de l'entreprise (et plus particulièrement de l'établissement susceptible d'intervenir) à réaliser des prestations similaires.
Ce dossier devra détailler:
— les moyens techniques de l'entreprise,
— les moyens humains (effectifs par qualification professionnelle et par fonction),
— les références pour des opérations similaires exécutées dans les 3 dernières années. Les références présentées devront mentionner le nom du projet, la date, le lieu d'exécution, les coordonnées du client, la nature et le montant des opérations effectuées,
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— répartition du chiffre d'affaires par secteur d'activité,
— le manuel d'assurance de la qualité ou une note sur l'organisation de la qualité.
Si le candidat recourt à la sous-traitance, il doit produire les mêmes documents concernant ce sous-traitant. En outre, pour justifier qu'il dispose des capacités de ce sous-traitant pour l'exécution du marché, le candidat produit un engagement écrit de ce sous-traitant.
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Exécution du marché
Dépôts et garanties exigés:
Une retenue de garantie à hauteur de 5 % du montant (HT) du marché pourra constituée dont le paiement interviendra 12 mois suivant la date de la réception provisoire. Toutefois, le règlement de celle-ci pourra être effectué en même temps que celui lié à la réception provisoire, sous réserve de la constitution d'une caution bancaire, personnelle et solidaire d'un montant équivalent, dont la main levée sera prononcée dans un délai de 12 mois suivant la date de réception provisoire.
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Principales conditions de financement et modalités de paiement et/ou référence aux dispositions pertinentes qui les régissent:
Financement sur fonds CEA.
Paiement à 30 jours fin de mois à compter de la date d'émission des factures, à condition que le CEA soit satisfait de la prestation.
Forme juridique que devra revêtir le groupement d'opérateurs économiques attributaire du marché:
Le candidat pourra être soit une entreprise individuelle, soit un groupement d'entreprises mais le CEA n'aura qu'un seul interlocuteur qui sera le mandataire.
En aucun cas une entreprise ne pourra cumuler une candidature soit en tant que:
— candidat individuel et membre d'un groupement,
— membre de plusieurs groupements y compris en tant que mandataire.
La constitution du groupement devra se faire avant le dépôt de candidatures.
Le CEA se laisse la possibilité d'imposer la forme du groupement au stade de la consultation.
Chaque membre du groupement devra fournir les documents demandés ci-après.

Procédure
Nombre minimum de candidats: 5
Nombre maximum de candidats: 10
Période de validité de l'offre: 6 mois
Langues
Langue: français 🗣️

Pouvoir adjudicateur
Contact
Point de contact: Sébastien Bernard
Adresse du profil d'acheteur: https://www.avis-de-marches.cea.fr 🌏
Nom: CEA/Saclay
Adresse postale: DSM/Iramis/SPCSI Bat. 462 P21
Point de contact: Cindy Lynn Rountree
Téléphone: +33 169082655 📞
Courrier électronique: cindy.rountree@cea.fr 📧
Fax: +33 169088446 📠

Référence
Identifiants
Numéro de référence attribué par le pouvoir adjudicateur: 12B0007-SB
Informations complémentaires
Les candidatures devront être adressées en 3 exemplaires (1 original et 2 copies) au: CEA/Saclay, bureau du courrier pour le service commercial / BEPII, PC 98 bât. 530, pièce 231, 91191 Gif-Sur-Yvette Cedex, FRANCE, avec la mention "Aapc/12b0007/Sb, objet: Afm".
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Si votre dossier est transmis par courrier, ce dernier devra être adressé en recommandé avec avis de réception.
Si votre dossier arrive par porteur spécial, il devra être remis à un représentant du bureau du courrier du CEA/Saclay, dans le strict respect du délai mentionné ci-dessus et contre remise d'un récépissé.
Pour cela, le porteur se présentera à l'accueil de la Porte Nord, où la procédure de dépôt du dossier lui sera indiqué (la carte nationale d'identité ou le passeport lui sera réclamé).
Le présent avis peut être retiré sur https://avis-de-marches.cea.fr.
Pour déposer une candidature sous forme dématérialisée via la plateforme du CEA, la personne habilitée à engager le candidat doit être:
— titulaire d'un certificat électronique accepté par le CEA (les modalités d'obtention de ce certificat sont disponibles sur la plateforme du CEA sous la rubrique "conditions d'utilisation"),
— inscrit sur la plateforme de gestion des marchés du CEA, accessible à l'adresse https://avis-de-marches.cea.fr,
— cliquer sur le lien "répondre à la consultation" après avoir accepté les conditions d'utilisation.
Il est rappelé que le CEA n'est pas soumis au code des marchés publics.
Le CEA est soumis aux dispositions du décret no 2005-1742 du 30.12.2005 fixant les règles applicables aux marchés passés par les pouvoirs adjudicateurs mentionnés à l'article 3 de l'ordonnance no 2005-649 du 6.6.2005 relative aux marchés passés par certaines personnes publiques ou privées non soumises au codedesmarchés publics et de sa version consolidée par décret no 2008-1334 du 17.12.2008.
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Date d'envoi du présent avis au JOUE et au BOAMP: 12.3.2012.

Informations complémentaires
Organe de révision
Nom: Tribunal de grande instance de Paris
Adresse postale: 4 boulevard du Palais
Commune postale: Paris Rp
Code postal: 75001
Pays: France 🇫🇷
Téléphone: +33 144325151 📞
Service auprès duquel des informations sur la procédure de recours peuvent être obtenues
Nom: Greffe du Tribunal de grande instance de Paris
Source: OJS 2012/S 051-083092 (2012-03-12)
Avis d'attribution de marché (2012-10-26)
Objet
Métadonnées de l'avis
Type de document: Avis d'attribution de marché

Procédure
Type de soumission: Sans objet
Critères d'attribution
Non spécifié

Pouvoir adjudicateur
Identité
Nom du pouvoir adjudicateur: Cea/Saclay
Adresse postale: Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives Dsm-Ucf, Service commercial, bâtiment 530

Référence
Dates
Date d'envoi: 2012-10-26 📅
Date de publication: 2012-10-31 📅
Identifiants
Numéro d'avis: 2012/S 210-344958
Se réfère à l'avis: 2012/S 51-083092
Numéro JO-S: 210
Informations complémentaires
Annonce no 224, BOAMP 53 B du 15.3.2012. Date d'envoi du présent avis au JOUE et au BOAMP: 26.10.2012.

Objet
Lieu d'exécution
Site principal ou lieu d'exécution: Cea/Saclay, 91191 Gif-sur-Yvette.

Attribution du marché
Date de conclusion du contrat: 2012-09-21 📅
Nom: Bruker Axs SAS
Adresse postale: 4 allée Hendrik Lorentz, bâtiment A5, parc de la Haute Maison
Commune postale: Marne-la-Vallée Cedex 2
Code postal: 77447
Pays: France 🇫🇷

Informations complémentaires
Organe de révision
Nom: Tribunal de Grande Instance de Paris
Commune postale: Paris
Service auprès duquel des informations sur la procédure de recours peuvent être obtenues
Nom: Greffe du Tribunal de Grande Instance de Paris
Source: OJS 2012/S 210-344958 (2012-10-26)
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Région:
France Ile-de-France Ile-de-France Essonne
Produits/services:
Équipements de laboratoire, d'optique... Appareils de contrôle et d'essai Microscopes