Equipement TOF-SIMS à cluster d'Argon. Date de livraison souhaitée:
Le CEA/Grenoble souhaite s'équiper d'un spectromètre de masse des ions secondaires à temps de vol (ToF-SIMS) permettant la profilométrie des éléments chimiques à l'échelle nanométrique, avec une sensibilité aux dopants et traces (concentration inférieure au PPM), pour les dispositifs de l'électronique organique, les énergies alternatives, les nanosciences.
La spécificité principale de ce ToF-SIMS est de permettre la réalisation de profilométrie rapide et sans perturbation majeure de la structure chimique des dispositifs électroniques polymères tels que les diodes à émission de lumière organique (OLED).
Les applications majeures de cet équipement sont les suivantes:
— profilométrie des couches polymères dans les dispositifs pour l'électronique organique et le photovoltaïque,
— étude des empilements pour les énergies nouvelles en maintenant des matériaux sensibles à l'air sous atmosphère contrôlée,
— profilométrie chimique des empilements des couches ultraminces pour les micro/ nanotechnologies.
Cet équipement sera installé sur la plate-forme de Nano-Caractérisation au sein du campus MINATEC.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2012-06-26.
L'appel d'offres a été publié le 2012-05-16.
Qui ?
Qu'est-ce que c'est ?
Historique des marchés publics
| Date |
Document |
| 2012-05-16
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Avis de marché
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| 2012-05-29
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Informations complémentaires
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