Équipement neuf de microscopie à force atomique avec modules électriques
La fourniture d'un équipement neuf de microscopie a force atomique pour des mesures en topographie (Afm) avec une excellente précision. Le dispositif doit permettre des mesures électrostatiques (Efm-Kfm) et doit être évolutif vers des mesures en ambiance contrôlée et en température.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2012-12-05.
L'appel d'offres a été publié le 2012-10-17.
Fournisseurs
Les fournisseurs suivants sont mentionnés dans les décisions d'attribution ou dans d'autres documents relatifs aux marchés publics :
Qui ?
Qu'est-ce que c'est ?
Historique des marchés publics
| Date |
Document |
| 2012-10-17
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Avis de marché
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| 2013-02-20
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Avis d'attribution de marché
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