Fourniture d'un équipement à sonde ionique focalisée (Focused Ion Beam, Fib)
Fourniture d'un équipement à sonde ionique focalisée à double faisceau permettant la préparation et la découpe d'échantillons destinés à la microscopie et à la sonde atomique tomographique ainsi que la réalisation de petits objets.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2012-01-12.
L'appel d'offres a été publié le 2011-12-05.
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Historique des marchés publics
| Date |
Document |
| 2011-12-05
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Avis de marché
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