Fourniture d'un ellipsometre spectroscopique pour analyse de couches minces sur wafer 200 mm
Le CEA souhaite s'équiper d'un ellipsometre spectroscopique pour analyse de couches minces sur wafer 200 mm.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2011-05-23.
L'appel d'offres a été publié le 2011-04-22.
Qui ?
Qu'est-ce que c'est ?
Historique des marchés publics
| Date |
Document |
| 2011-04-22
|
Avis de marché
|