Fourniture d'un diffractomètre à rayons X pour l'étude de couches minces
Le diffractomètre doit permettre de réaliser, dans des conditions optimales, la caractérisation de couches minces poly- ou mono-cristallines en résolution standard, par diffraction et réflectivité.
Date limite
Le délai de réception des offres était de 2011-10-12.
L'appel d'offres a été publié le 2011-09-01.
Qui ?
Qu'est-ce que c'est ?
Historique des marchés publics
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Document |
| 2011-09-01
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Avis de marché
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| 2011-10-04
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Informations complémentaires
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